- Stahuj zápisky z přednášek a ostatní studijní materiály
- Zapisuj si jen kvalitní vyučující (obsáhlá databáze referencí)
- Nastav si své předměty a buď stále v obraze
- Zapoj se svojí aktivitou do soutěže o ceny
- Založ si svůj profil, aby tě tví spolužáci mohli najít
- Najdi své přátele podle místa kde bydlíš nebo školy kterou studuješ
- Diskutuj ve skupinách o tématech, které tě zajímají
Studijní materiály
Hromadně přidat materiály
Diagnostika a zkušebnictví - zkouška x
BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví
Hodnocení materiálu:
Zjednodušená ukázka:
Stáhnout celý tento materiálDiagnostika a zkušebnictví
1. Diagnostika je obecná nauka o zjišťování poruch, popřípadě celkového technického stavu diagnostikovaných zařízení.
Technická diagnostika – jestliže objekt, jehož stav určujeme, je technického charakteru.
Technická prognostika – zahrnuje úlohy, které řeší problematiku předvídání technického stavu na určitý časový úsek nebo jinak definovaný úsek života objektu.
Technická genetika – zkoumá stav ve kterém se objekt nacházel v určité době v minulosti
2. Technická diagnostika zahrnuje- analýzu konkrétních objektů
- analýzu sestrojení odpovídajících matematických modelů
- výzkum a sestrojení konkrétních diagnostických zařízení
3. Projekt: Formování požadavků pro výrobu včetně jejich ověření na prototypu
Konstrukce: Vypracování podkladů pro výrobu včetně jejich ověření na prototypu
Výroba: Vyrobení dílů a celého výrobku podle dokumentace včetně jeho uvedení do chodu
Provoz: Využívání výrobků podle určení včetně jeho skladování nebo využití jeho zálohy
4. Objekt(výrobek)- je předmět stanoveného určení jehož spolehlivost se posuzuje z hlediska jeho zamýšleného poslání, osvojení, výzkumu nebo zkoušení.
Objekty s nepřístupnou vnitřní strukturou(black box): jsou objekty, u nichž sledujeme pouze správnost přiřazení vstup-výstup ale nesledujeme vnitřní parametry ani vnitřní signály.
Objekty s přístupnou vnitřní strukturou: jsou objekty, které vyšetrujeme jakožto soustavu rozložitelnou na konečný počet prvků, u nichž sledujeme vedle vstupních signálů též vnitřní signály. Tj vstupní a výstupní signály jednotlivých prvků bloků.
Obnovený objekt: Objekt jehož schopnost, plnit požadovanou funkci se podle technických podmínek obnovuje.
Neobnovený objekt: Objekt jehož schopnost plnit požadovanou funkci se podle se podle technických podmínek po poruše neobnovuje.
5. Spolehlivost: Obecná vlastnost objektu, spočívající ve schopnosti plnit požadované funkce při zachování hodnot stanovených provozních ukazatelů v daném rozmezí a v čase podle technických podmínek
Zkouška spolehlivosti: zkouška objektu, kterou se mají určit nebo ověřovat ukazatele spolehlivosti
Zrychlená zkouška spolehlivosti: zkouška objektu prováděná ve zvláštních podmínkách, aby se získaly informace o spolehlivosti objektu v kratších lhůtách při jeho provozu v podmínkách stanovenými technickou dokumentaci. Zvláštní podmínky nesměji způsobit změnu mechanismu poruch.
6. Zkušebnictví
Technický obor zabývající se ověřováním vlastností výrobků i materiálů na podkladě státem stanovených norem, technických předpisů a technických podmínek předem sjednaných.
7. Výrobek je jakákoliv věc, která byla vyrobena, vytěžena nebo jinak získána bez ohledu na stupeň jejího zpracování a je určena k uvedení na trh.
Technickými požadavky na výrobek: jsou vlastnosti výrobku z hlediska oprávněného zájmu, rozměrů, funkčnosti, jakosti, včetně požadavků na jeho název, pod kterým je prodáván, úprava názvosloví, znaků, zkoušení výrobku a zkušebních metod, balení, značení nebo označování výrobku a postupů pro posouzení shody výrobku s právními předpisy nebo s normami.
8. Bezpečný výrobek se považuje výrobek: Splňující požadavky příslušného technického předpisu nebo pokud pro něj technický předpis neexistuje, buď splňující požadavky norem nebo odpovídající stavu vědeckých a technických poznatků známých v době jeho uvedení na trh.
Stanovený výrobek: Stanovený výrobek odpovídá stanoveným požadavkům a že při posuzování shody byly dodrženy podmínky stanovené zákonem.
9. Mikroskopie: je v širším smyslu odvětví aplikované fyziky, které pomocí mikroskopu zobrazuje struktury menší než je rozlišovací schopnost lidského oka, v užším smyslu technická práce s mikroskopem. Je to název pro četné, často velmi jemné a nesnadné metody, jichž se používá při práci s mikroskopem. Jde o přípravu k pozorování i další manipulace pod mikroskopem.
Elektronová mikroskopie, Optická mikroskopie.
10. Objektiv- Soustava čoček umístěná poblíž pozorovaného předmětu.
Okulár- Soustava čoček, kterou pozorujeme obraz vytvořený objektivem. Při pohledu do okuláru mikroskopu pozorujeme tedy zvětšený neskutečný převracený obraz předmětu.
11. Celkové zvětšení mikroskopu je rovnou součinu vlastního zvětšení okuláru a objektivu.
Rozlišovací schopnost mikroskopu je definována jako nejmenší vzdálenost dvou bodů předmětu, které jsou mikroskopem od sebe jasně rozlišitelné jako dva body.
Hloubková ostrost:při pozorování neprůsvitných zvrásněných povrchů nebo transparentních předmětů potřebujeme vidět ostře současně všechny body předmětu, které máme v zorném poli, bez ohledu na jejich výškovou polohu. Z toho důvodu nás zajímá hloubková ostrost mikroskopu.
12. Proveďte srovnání jednotlivých typů mikroskopů z hlediska charakteristických hodnot.
Mikroskopická technika Dosažitelné rozlišení
Světelná mikroskopie 0,2 μm
Mikroskopie blízkého pole 50 nm
Rastrovací elektronová mikroskopie nad cca 2 až 3 nm
Transmisní elektronová mikroskopie nad 0,1 nm
Mikroskopie rastrovací sondou atomární, kolem 0,1 nm
13. Signály které se uvolňují, po dopadu primárních elektronů na vzorek:
Augerovy elektrony, Sekundární elektrony, Zpětně odražené elektrony, Charakteristické rtg. záření, spojité rtg záření. viditelná záření, difraktované charakteristické rtg. záření, pružné a nepružné rozptýlené prošlé elektrony, absorvované elektrony, elektromotorické napětí. (str 18 BSDG)
14. Transmisní elektronový mikroskop (TEM) slouží k vytvoření tisíci- až stotisícinásobně zvětšeného obrazu studovaného vzorku pomocí elektronové optické soustavy. K vytvoření obrazu se nevyužívá viditelné světlo, ale elektrony. Viditelný obraz je vytvořen na fluorescenčním stínítku svazkem elektronů, které prošly studovaným vzorkem nebo které na vzorku difraktovaly.
Rastrovací elektronová mikroskopie SEM (Scanning Electron Microscope)
Rastrovací elektronový mikroskop je zařízení určené především ke studiu povrchů tuhých látek při velkém zvětšení (až stotisícinásobném), větší rozlišovací schopnosti (až 15 nm), větší hloubce ostrosti (až několik mm).
V rastrovacím elektronovém mikroskopu dopadá na vzorek
Vloženo: 28.04.2009
Velikost: 87,00 kB
Komentáře
Tento materiál neobsahuje žádné komentáře.
Mohlo by tě zajímat:
Skupina předmětu BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví
Reference vyučujících předmětu BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví
Podobné materiály
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - Skripta Diagnostika a testování el.systémů
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - Skripta Diagnostika a zkušebnictví
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - Skripta Speciální diagnostika
- BDTS - Diagnostika a testování elektronických systémů - Diagnostika a testování el. systému - lab.cvičení
- BDTS - Diagnostika a testování elektronických systémů - Diagnostika a testování el. systému - poč.cvičení
- BDTS - Diagnostika a testování elektronických systémů - Diagnostika a testování el. systému
- BKSY - Komunikační systémy - bksy_zkouska_kapitoly
- BKSY - Komunikační systémy - bksy_zkouska_mega
- BAEO - Analogové elektronické obvody - zkouska_11.1.2006_reseni
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška pondělí 04.12.2006, 07.00
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška pondělí 04.12.2006, 11.00
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška pondělí 04.12.2006, 13.00
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška pondělí 4.12.2006, 13.00 vyprac
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška pondělí 5.12.2005, 13.00
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška pondělí 5.12.2005, 16.00
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška pondělí 5.12.2005, 18.00
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška pondělí 6.12.2004, 14.35
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška úterý 7.12.2004, 10.55
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška úterý 7.12.2004, 11.00
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto1
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto10
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto11
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto2
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto3
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto4
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto5
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto6
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto7
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto8
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto9
- BFY2 - Fyzika 2 - Semestrální zkouška A řešení
- BFY2 - Fyzika 2 - Semestrální zkouška B řešení
- BFY2 - Fyzika 2 - Zkouška ABC
- BICT - Impulzová a číslicová technika - zkouška_24_5_2005
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - zkouška řešení 1
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - zkouška řešení 2
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - zkouška řešení 3
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - zkouška řešení 4
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - zkouška řešení 5
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - zkouška řešení 6
- BLDT - Lékařská diagnostická technika - zkouska
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška - 22.1.2007 002
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška - 22.1.2007 003
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška - 22.1.2007 004
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška - 22.1.2007 005
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouska
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 06A vzor
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 06B vzor
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 06E vzor
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 06F vzor
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 06Jvzor
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 06Kvzor
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 06Nvzor
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 06Pvzor
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška vzor op BMA1 05B
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška vzor op BMA1 05D
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška zadání 13
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška zadání 21
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška zadání 23
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška zadání 24
- BMA1 - Matematika 1 - Závěrečná zkouška odpolední(výsledky)
- BMA1 - Matematika 1 - Závěrečná zkouška odpolední
- BMA2 - Matematika 2 - - Zkouska-rozvolneni B
- BMA2 - Matematika 2 - Zkouška zadání 21
- BMA2 - Matematika 2 - Zkouška zadání 22
- BMA2 - Matematika 2 - Zkouška zadání 23
- BMA2 - Matematika 2 - Zkouška zadání 24
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 3
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 4
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 5
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 6
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška7
- BMA3 - Matematika 3 - Zapletal řešená zkouška 06
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouska 01skupinaC
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouska 01skupinaA
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouska 01skupinaB
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 01 skupinaD
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 1
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 2
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška řešení 02A
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška řešení 02B
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška řešení 02C
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška řešení 02D
- BMVE - Měření v elektrotechnice - Zkouška_1
- BMVE - Měření v elektrotechnice - Zkouška_2
- BMVE - Měření v elektrotechnice - Zkouška_3
- BMVE - Měření v elektrotechnice - Zkouška_4
- BPTS - Přístupové a transportní sítě - ZkouškaOtazkyBPTS
- BSHE - Studiová a hudební elektronika - otazky zkouska
- BSHE - Studiová a hudební elektronika - zkouška
- BSIS - Signály a soustavy - zkouška1
- BSIS - Signály a soustavy - zkouška2
- BSIS - Signály a soustavy - zkouška3
- BSIS - Signály a soustavy - zkouška4
- BUMI - Úvod do medicínské informatiky - zkouska3
- BUMI - Úvod do medicínské informatiky - zkouška_14_1_08
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 3
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouska 1.termin
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 1
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 10
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 13
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 14
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 15
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 16
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 2
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 4
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 5
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 6
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 7
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 8
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 9
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška řeš..
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška řeš.
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška11
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška12
- MMUT - Multitaktní systémy - zkouska.MMZS.1termin.09.1.06.cast
- MMUT - Multitaktní systémy - zkouska.MMZS.1termin.09.1.06
- MMUT - Multitaktní systémy - zkouska.MMZS.2termin.16.1.06
- MMUT - Multitaktní systémy - zkouska.MMZS.3termin.23.1.06
- MKVE - Kvantová a laserová elektronika - zkouska_temata
- BCZS - Číslicové zpracování signálů - Zkouška 2009 -1.termín
- BMA2 - Matematika 2 - Zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - Zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMPS - Modelování a počítačová simulace - Zkouška
- BMPS - Modelování a počítačová simulace - Zkouška
- BMPS - Modelování a počítačová simulace - Zkouška
- BMPS - Modelování a počítačová simulace - Zkouška
- BMPS - Modelování a počítačová simulace - Zkouška
- BMPS - Modelování a počítačová simulace - Zkouška
- BMPS - Modelování a počítačová simulace - Zkouška
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Zkouška
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Zkouška
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Zkouška
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Zkouška
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Zkouška
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Zkouška
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Zkouška
- BAEY - Analogové elektronické obvody - Zkouška
- BAEY - Analogové elektronické obvody - Zkouška
- BAEY - Analogové elektronické obvody - Zkouška
- BAEY - Analogové elektronické obvody - Zkouška
- BAEY - Analogové elektronické obvody - Zkouška
- BAEY - Analogové elektronické obvody - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - zkouška
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška
- BDOM - Digitální obvody a mikroprocesory - Zkouška různá zadání
- BDOM - Digitální obvody a mikroprocesory - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - SEmestrální zkouška A, náhradní termín a opravný termín
- BESO - Elektronické součástky - Semestrální zkouška B 2007
- BVNP - Vysoké napětí a elektrické přístroje - Zkouška 07 Vávra a Blažek
- BVNP - Vysoké napětí a elektrické přístroje - Zkouška přístroje
- BVPA - Vybrané partie z matematiky - Semestrální zkouška květen05
- BMA3 - Matematika 3 - Staré materiály- přednášky, sbírka, zkouška
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška 2006
- BESO - Elektronické součástky - zkouška 2008
- BESO - Elektronické součástky - zkouška 2008 2
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška 12-11-2003
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška z materiálů BMTD FEKT
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška BMA1 datum 4-1-2010 FEKT VUT
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - BEL1 závěrečná zkouška 8-1-2010 VUT FEKT skupiny A-B.
- BMA1 - Matematika 1 - zkouska
- BMA1 - Matematika 1 - bma1-zkouska-27-1-2010 vut fekt
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - Zkouska bel1 opravna 27-1-2010 vut fekt
- BMA2 - Matematika 2 - BMA2 zkouška květen 2010 řádný termín
- BFY2 - Fyzika 2 - BFY2 zkouška AB 2010 řádný termín
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - BEL2 semestrální zkouška 2010 řádný termín
- BESO - Elektronické součástky - BESO zkouška 2010
- BMA2 - Matematika 2 - BMA2 zkouška první opravný termín 2010
- BFY1 - Fyzika 1 - BFY1 zkouška 12-2009
- BMA3 - Matematika 3 - bma3_zkouska_tahak
- BNEZ - Napájení elektronických zařízení - BNEZ 2010 zkouška předtermín
- BSIS - Signály a soustavy - 2004 BSIS zkouška a řešení
- BMVA - Měření v elektrotechnice - zkouška BMVA 3-1-2011 řešení, řádný termín
- BMA1 - Matematika 1 - BMA1 zkouška 3-1-2011 řešení
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška z BMA1 - řádný termín 3.1.2011
- BAEO - Analogové elektronické obvody - NEW BAEO 11-1-2011 zkouška
- BKOM - Komunikační technologie - zkouška
- BEMV - Elektrotechnické materiály a výrobní procesy - Semestralni zkouska z vyrobnich procesu, leden 2011
- BMA3 - Matematika 3 - Semestralni zkouska BMA3 2010/2011 (1. a 2. termin)
- AUIN - Umělá inteligence v medicíně - Zkouška 21.1.2010
- AUIN - Umělá inteligence v medicíně - Zkouška z 28.1.2010
- AUIN - Umělá inteligence v medicíně - Zkouška z 6.1.2011
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - BKEZ zkouška asi 2010.zip
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - BEL1 zkouška 26-1-2011.zip
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - BKEZ zkouška 2011-4
- BEVA - Elektromagnetické vlny, antény a vedení - BEVA 2011 zkouška z 25 května.zip
- BMA3 - Matematika 3 - 2011 zkouška první termín
- BMA3 - Matematika 3 - 2012 zkouška první termín
- BASS - Analýza signálů a soustav - 1. opravná zkouška BASS (2010/2011)
- BAEO - Analogové elektronické obvody - BAEO Semestrální Zkouška 2012
- BVEL - Výkonová elektronika - BVEL 13-1- 2012 zkouška zadání
- BHWS - Hardware počítačových sítí - Zkouška z termínu roku 2011 a 2012
- BVEL - Výkonová elektronika - zkouška
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - BEL1 zkouška 12-2011 a 1-2012
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - BCZA zkouška zadání 19-5-2011 v pdf
- BICT - Impulzová a číslicová technika - Závěrečná zkouška 1. termín 9. 5. 2012
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 2012-13 první termín
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 2012-13 předtermín
- BMA3 - Matematika 3 - BMA3 Zkouška 2012-13 předtermín
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - BEL1 Zkouška 2012-13 předtermín
- AMA3 - Matematika 3 - Zkouška předtermín 2012/2013
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 2012-13 1.termín
- AMA3 - Matematika 3 - Zkouška termín 2.1. 2012/2013
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 2012-13 druhý termín
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - BEL1 Zkouška 2012-13 první termín
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 2012-13 2.termín
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - BEL1 Zkouška 2012-13 druhý termín
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 2012-13 třetí termín
- BELA - Elektroakustika - Zkouška 2013 - vypracované
- BEVA - Elektromagnetické vlny, antény a vedení - Zkouška 2013
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - BCZA zkouška zadání 14-5-2013
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - BCZA zkouška zadání 24-5-2013
- BICT - Impulzová a číslicová technika - Zkouška 2013 - 1. termín
- BVFT - Vysokofrekvenční Technika - Zkouška - teoretické otázky 2014
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - BEL1 zkouška _3.2.2014_vysledky_A
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - BEL1 zkouška _3.2.2014_vysledky_B
- MDRE - Diferenciální rovnice a jejich použití v elektrotechnice. - MDRE 2014 zkouska B
- MEFE - English for Life - MEFE zkouška 2014 zimní
- MTEO - Teorie elektronických obvodů - MTEO zkouška 2015 leden
- MDRE - Diferenciální rovnice a jejich použití v elektrotechnice. - Zkouška 5.1.2015
- MTEO - Teorie elektronických obvodů - MTEO zkouška 2015 leden dalsi termin
- MTEO - Teorie elektronických obvodů - MTEO zkouška 2015 leden treti termin
- BMA3 - Matematika 3 - zkouška 5.1.2015
- BMA3 - Matematika 3 - zkouška 5.1.2015 (pozdní skupina)
- MDRE - Diferenciální rovnice a jejich použití v elektrotechnice. - Zkouška MDRE 12.1.2015
- MSMK - Systémy mobilních komunikací - MSMK zkouska leden 2014 FEKT
- MSMK - Systémy mobilních komunikací - MSMK zkouska leden 2014 FEKT pdf
- MTEO - Teorie elektronických obvodů - MTEO Zkouška ctvrty termín 2015
- MTRK - Teorie rádiové komunikace - MTRK zkouška leden 2015
- MPKS - Počítačové a komunikační sítě - MPKS zkouška 5 - 2015
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška 25.5.2015
- BCIF - Číslicové filtry - Zkouška 2015
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - BEL2 ukazkova zkouska 2015
- MPKS - Počítačové a komunikační sítě - MPKS zkouška 1. termín 2016
- MSDS - Směrové a družicové spoje - MSDS zkouška
- MPKS - Počítačové a komunikační sítě - Zkouška 3. termín 2017
Copyright 2025 unium.cz


