- Stahuj zápisky z přednášek a ostatní studijní materiály
- Zapisuj si jen kvalitní vyučující (obsáhlá databáze referencí)
- Nastav si své předměty a buď stále v obraze
- Zapoj se svojí aktivitou do soutěže o ceny
- Založ si svůj profil, aby tě tví spolužáci mohli najít
- Najdi své přátele podle místa kde bydlíš nebo školy kterou studuješ
- Diskutuj ve skupinách o tématech, které tě zajímají
Studijní materiály
Hromadně přidat materiály
Diagnostika a zkušebnictví - zkouška x
BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví
Hodnocení materiálu:
Zjednodušená ukázka:
Stáhnout celý tento materiálystaly nebo i práškové vzorky. Monokrystaly jsou zkoumány pomocí rentgenových paprsků různých vlnových délek. Při metodě rotujícího krystalu se vzorek stále pomalu otáčí, přičemž se používá záření s jedinou vlnovou délkou. U všech metod se kvůli interferenci vyskytují v určitých směrech rozdíly v jasu, a ty mohou být např. zviditelněny na fot. desce. U elektronové difr. dáváme tenký vzorek do cesty paprsku vysokoenergetických elektronů a zjišťujeme jejich rozptyl po průletu. Často bývá doplňkem elektron. mikroskopu.
28. ZKOUŠKY BEZPEČNOSTI ELEKTRICKÝCH PŘEDMĚTŮ
Cílem zkoušek bezpečnosti je prokázat, že elektrické předměty jsou při obvyklém užívání bezpečné a splňují i jiné požadavky stanovené předmětovou normou nebo jiným ustanovením.Při jednotlivých zkouškách se zkouší vliv běžných vnějších i vnitřních faktorů, které mohou snížit bezpečnost elektrického předmětu. Vliv extrémních vnějších faktorů se zkouší při klimatických a mechanických zkouškách odolnosti, kde se sleduje správná funkce elektrického předmětu během zkoušky a po zkoušce (ČSN 34 56 81).
29. Zkoušky elektrické, zkoušky krytí, zkoušky mechanické, zkoušky ve vlhku, zkoušky odolnosti proti teplu, zkoušky vhodnosti použití konstrukčních materiálů.
30. Zkoušky elektrické izolace: Měření izolačního odporu, Zkouška přiloženým střídavým napětím, Měření unikajícího proudu - metoda A, Měření unikajícího proudu – metoda B
Ostatní elektrické zkoušky: Oteplovací zkouška, Zkouška odolnosti izolačních částí vůči plazivým proudům
31. Zkoušky krytí: Krytím elektrických předmětů se rozumí součást předmětu, která slouží k ochraně osob před nebezpečným dotykem živých a pohybujících se částí, dále k ochraně předmětu poškozením, které by mohlo nastat vniknutím cizích těles (zvláště vodivých) a vody do vnitřku předmětu. Na označení stupně ochrany se používají písmena IP a dvojčíslí. První číslice vyjadřuje stupeň ochrany osob před nebezpečným dotykem a současně stupeň ochrany proti vniknutí cizích těles. Druhá číslice vyjadřuje stupeň ochrany proti vniknutí vody. Pokud se uvádí pouze jedna číslice, je druhá číslice nahrazena písmenem X.
32. Mechanické zkoušky elektrických předmětů mají prokázat bezpečnost předmětu z hlediska mechanických vlastností. Porušením mechanických vlastností, např. rozbitím plastových krytů součástí je porušena téměř vždy také elektrická bezpečnost předmětu a hrozí nebezpečí úrazu elektrickým proudem. Dále může být porušena ochrana před vniknutím cizích těles, vody a plynu. Při mechanickém působení mohou být poškozeny nebo uvolněny ovládací části předmětu nebo není možno po zkoušce předmět rozebrat za účelem údržby, aniž by se mechanicky poškodil.
33. Mechanické zkoušky: Zkoušky mechanické odolnosti rázem: Zkouška paličkou, zkouška rázovým přístrojem, zkouška kyvadlem, zkouška v přesýpacím bubnu, zkouška kroutícím momentem, zkouška pády, zkouška chvěním, zkouška odlehčením od tahu, zkouška ochrany před koucením, zkouška ochrany před ohybem, zkouška odolnosti nápisů na válcových plochách proti otěru, zkouška odolnosti nápisl na rovinných plochách proti otěru.
34. Zkouška kroutícím momentem:
Zkouška šroubových spojů krouticím momentem má prokázat, že mechanická odolnost šroubového spoje je při obvyklém užívání dostatečná.
Zkušebním zařízením pro šrouby s drážkou, které se zkoušejí momentem menším než 2,5 Nm, je momentový zkušební šroubovák. Pro zkoušení šroubů a matic bez drážky se používá momentového přístroje s ramenem a závažím. Zkoušce se podrobují šroubové spoje, se kterými je nutno při obvyklém užívání manipulovat. Šrouby se závitem z izolantu nebo v izolantu se při zkoušce zcela vyšroubují a zašroubují stanoveným momentem 10 krát. Zkušební krouticí momenty jsou stanoveny podle druhu šroubu a jeho průměru tabulkou, ve které jsou momenty od 0,2 do 10 Nm pro šrouby průměru 2 až 10 mm.
Předmět zkoušce vyhověl, nenastalo-li takové poškození šroubového spoje, které by vadilo jeho dalšímu užívání.
35. Tvrdost je definována jako odpor, který klade materiál proti vnikání cizího tělesa.
36. Zkoušky tvrdosti rozdělujeme na:
statické (tvrdost podle , , , )
dynamické (Poldi kladívko, Baumanovo kladívko, , duroskop)
Další dělení:
zkoušky vrypové (),
vnikací (, , , ),
odrazové ().
37. Klimatické zkoušky: Na elektrické předměty působí během jejich provozu v prostředí, pro které jsou určeny, souhrn vnějších klimatických a mechanických faktorů, které mohou vyvolat poruchu a způsobit narušení provozuschopnosti předmětu. Mezi klimatické faktory se počítají kombinovaná namáhání vlivem teploty, vlhkosti vzduchu, tlaku vzduchu, slunečního záření, prachu, plísní, solného aerosolu, deště, vody a znečištěného ovzduší.
38. Přehled klimatických zkoušek: Zkouška mrazem, zkouška suchým teplem, zkouška vlhkým teplem necyklická, zkouška vlhkým teplem cyklická, zkouška nízkým tlakem vzduchu, zkouška střídáním teplot, zkouška plísněmi, zkouška slunečním zářením, zkouška znečistěným ovzdušímm zkouška prachem a pískem, zkouška těsnosti, zkouška hermetičnosti, zkouška krytí
39. Zkouška těsnosti ohřátím: Zkouškou se ověřuje stav utěsnění předmětu naplněných kapalným impregnantem nebo dielektrikem.
Přísnost zkoušky je dána zkušební teplotou o 1 až 5 °C vyšší než je teplota pro zkoušku suchým teplem, odpovídající teplotní kategorii předmětu. Trvání zkoušky je 10 minut.
Předmět se při zkoušce uloží do klimatické komory vyhřáté na předepsanou teplotu tak, aby předpokládaná netěsnost byla otočená dolů. Po dosažení ustálené teploty se počítá doba zkoušky 10 min. Po zkoušce se předmět uloží do normálního prostředí a kontroluje se, zda nevytekla kapalina
40. Nejistota měření:
- je parametr přidružený k výsledku měření, který charakterizuje rozptyl hodnot, které by mohly být důvodně přisuzovány k měřené veličině s určitou pravděpodobností a které lze pokládat za hodnotu veličiny, která je objektem měření.
Nejistota měření zpravidla obsahuje více prvků, které lze zjišťovat buď experimentálně na základě měření nebo jinak podle úsudku a předpokladů.
Nejistota typu A - uA(x) se zjišťuje experimentálně opakovanými měřeními a představuje rozptyl hodnot opakovaných měření.
(22)
Nejistota typu B - uB(x) je určována jinak než opakovanými měřeními, určení její velikosti vychází z kvantifikace možných zdrojů, které mohou nejistotu tohoto typu způsobovat.
Vloženo: 28.04.2009
Velikost: 87,00 kB
Komentáře
Tento materiál neobsahuje žádné komentáře.
Mohlo by tě zajímat:
Skupina předmětu BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví
Reference vyučujících předmětu BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví
Podobné materiály
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - Skripta Diagnostika a testování el.systémů
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - Skripta Diagnostika a zkušebnictví
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - Skripta Speciální diagnostika
- BDTS - Diagnostika a testování elektronických systémů - Diagnostika a testování el. systému - lab.cvičení
- BDTS - Diagnostika a testování elektronických systémů - Diagnostika a testování el. systému - poč.cvičení
- BDTS - Diagnostika a testování elektronických systémů - Diagnostika a testování el. systému
- BKSY - Komunikační systémy - bksy_zkouska_kapitoly
- BKSY - Komunikační systémy - bksy_zkouska_mega
- BAEO - Analogové elektronické obvody - zkouska_11.1.2006_reseni
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška pondělí 04.12.2006, 07.00
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška pondělí 04.12.2006, 11.00
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška pondělí 04.12.2006, 13.00
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška pondělí 4.12.2006, 13.00 vyprac
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška pondělí 5.12.2005, 13.00
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška pondělí 5.12.2005, 16.00
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška pondělí 5.12.2005, 18.00
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška pondělí 6.12.2004, 14.35
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška úterý 7.12.2004, 10.55
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška úterý 7.12.2004, 11.00
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto1
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto10
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto11
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto2
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto3
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto4
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto5
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto6
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto7
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto8
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto9
- BFY2 - Fyzika 2 - Semestrální zkouška A řešení
- BFY2 - Fyzika 2 - Semestrální zkouška B řešení
- BFY2 - Fyzika 2 - Zkouška ABC
- BICT - Impulzová a číslicová technika - zkouška_24_5_2005
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - zkouška řešení 1
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - zkouška řešení 2
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - zkouška řešení 3
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - zkouška řešení 4
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - zkouška řešení 5
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - zkouška řešení 6
- BLDT - Lékařská diagnostická technika - zkouska
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška - 22.1.2007 002
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška - 22.1.2007 003
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška - 22.1.2007 004
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška - 22.1.2007 005
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouska
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 06A vzor
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 06B vzor
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 06E vzor
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 06F vzor
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 06Jvzor
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 06Kvzor
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 06Nvzor
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 06Pvzor
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška vzor op BMA1 05B
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška vzor op BMA1 05D
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška zadání 13
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška zadání 21
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška zadání 23
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška zadání 24
- BMA1 - Matematika 1 - Závěrečná zkouška odpolední(výsledky)
- BMA1 - Matematika 1 - Závěrečná zkouška odpolední
- BMA2 - Matematika 2 - - Zkouska-rozvolneni B
- BMA2 - Matematika 2 - Zkouška zadání 21
- BMA2 - Matematika 2 - Zkouška zadání 22
- BMA2 - Matematika 2 - Zkouška zadání 23
- BMA2 - Matematika 2 - Zkouška zadání 24
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 3
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 4
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 5
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 6
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška7
- BMA3 - Matematika 3 - Zapletal řešená zkouška 06
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouska 01skupinaC
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouska 01skupinaA
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouska 01skupinaB
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 01 skupinaD
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 1
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 2
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška řešení 02A
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška řešení 02B
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška řešení 02C
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška řešení 02D
- BMVE - Měření v elektrotechnice - Zkouška_1
- BMVE - Měření v elektrotechnice - Zkouška_2
- BMVE - Měření v elektrotechnice - Zkouška_3
- BMVE - Měření v elektrotechnice - Zkouška_4
- BPTS - Přístupové a transportní sítě - ZkouškaOtazkyBPTS
- BSHE - Studiová a hudební elektronika - otazky zkouska
- BSHE - Studiová a hudební elektronika - zkouška
- BSIS - Signály a soustavy - zkouška1
- BSIS - Signály a soustavy - zkouška2
- BSIS - Signály a soustavy - zkouška3
- BSIS - Signály a soustavy - zkouška4
- BUMI - Úvod do medicínské informatiky - zkouska3
- BUMI - Úvod do medicínské informatiky - zkouška_14_1_08
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 3
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouska 1.termin
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 1
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 10
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 13
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 14
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 15
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 16
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 2
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 4
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 5
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 6
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 7
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 8
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 9
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška řeš..
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška řeš.
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška11
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška12
- MMUT - Multitaktní systémy - zkouska.MMZS.1termin.09.1.06.cast
- MMUT - Multitaktní systémy - zkouska.MMZS.1termin.09.1.06
- MMUT - Multitaktní systémy - zkouska.MMZS.2termin.16.1.06
- MMUT - Multitaktní systémy - zkouska.MMZS.3termin.23.1.06
- MKVE - Kvantová a laserová elektronika - zkouska_temata
- BCZS - Číslicové zpracování signálů - Zkouška 2009 -1.termín
- BMA2 - Matematika 2 - Zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - Zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMPS - Modelování a počítačová simulace - Zkouška
- BMPS - Modelování a počítačová simulace - Zkouška
- BMPS - Modelování a počítačová simulace - Zkouška
- BMPS - Modelování a počítačová simulace - Zkouška
- BMPS - Modelování a počítačová simulace - Zkouška
- BMPS - Modelování a počítačová simulace - Zkouška
- BMPS - Modelování a počítačová simulace - Zkouška
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Zkouška
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Zkouška
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Zkouška
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Zkouška
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Zkouška
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Zkouška
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Zkouška
- BAEY - Analogové elektronické obvody - Zkouška
- BAEY - Analogové elektronické obvody - Zkouška
- BAEY - Analogové elektronické obvody - Zkouška
- BAEY - Analogové elektronické obvody - Zkouška
- BAEY - Analogové elektronické obvody - Zkouška
- BAEY - Analogové elektronické obvody - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - zkouška
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška
- BDOM - Digitální obvody a mikroprocesory - Zkouška různá zadání
- BDOM - Digitální obvody a mikroprocesory - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - SEmestrální zkouška A, náhradní termín a opravný termín
- BESO - Elektronické součástky - Semestrální zkouška B 2007
- BVNP - Vysoké napětí a elektrické přístroje - Zkouška 07 Vávra a Blažek
- BVNP - Vysoké napětí a elektrické přístroje - Zkouška přístroje
- BVPA - Vybrané partie z matematiky - Semestrální zkouška květen05
- BMA3 - Matematika 3 - Staré materiály- přednášky, sbírka, zkouška
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška 2006
- BESO - Elektronické součástky - zkouška 2008
- BESO - Elektronické součástky - zkouška 2008 2
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška 12-11-2003
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška z materiálů BMTD FEKT
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška BMA1 datum 4-1-2010 FEKT VUT
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - BEL1 závěrečná zkouška 8-1-2010 VUT FEKT skupiny A-B.
- BMA1 - Matematika 1 - zkouska
- BMA1 - Matematika 1 - bma1-zkouska-27-1-2010 vut fekt
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - Zkouska bel1 opravna 27-1-2010 vut fekt
- BMA2 - Matematika 2 - BMA2 zkouška květen 2010 řádný termín
- BFY2 - Fyzika 2 - BFY2 zkouška AB 2010 řádný termín
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - BEL2 semestrální zkouška 2010 řádný termín
- BESO - Elektronické součástky - BESO zkouška 2010
- BMA2 - Matematika 2 - BMA2 zkouška první opravný termín 2010
- BFY1 - Fyzika 1 - BFY1 zkouška 12-2009
- BMA3 - Matematika 3 - bma3_zkouska_tahak
- BNEZ - Napájení elektronických zařízení - BNEZ 2010 zkouška předtermín
- BSIS - Signály a soustavy - 2004 BSIS zkouška a řešení
- BMVA - Měření v elektrotechnice - zkouška BMVA 3-1-2011 řešení, řádný termín
- BMA1 - Matematika 1 - BMA1 zkouška 3-1-2011 řešení
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška z BMA1 - řádný termín 3.1.2011
- BAEO - Analogové elektronické obvody - NEW BAEO 11-1-2011 zkouška
- BKOM - Komunikační technologie - zkouška
- BEMV - Elektrotechnické materiály a výrobní procesy - Semestralni zkouska z vyrobnich procesu, leden 2011
- BMA3 - Matematika 3 - Semestralni zkouska BMA3 2010/2011 (1. a 2. termin)
- AUIN - Umělá inteligence v medicíně - Zkouška 21.1.2010
- AUIN - Umělá inteligence v medicíně - Zkouška z 28.1.2010
- AUIN - Umělá inteligence v medicíně - Zkouška z 6.1.2011
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - BKEZ zkouška asi 2010.zip
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - BEL1 zkouška 26-1-2011.zip
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - BKEZ zkouška 2011-4
- BEVA - Elektromagnetické vlny, antény a vedení - BEVA 2011 zkouška z 25 května.zip
- BMA3 - Matematika 3 - 2011 zkouška první termín
- BMA3 - Matematika 3 - 2012 zkouška první termín
- BASS - Analýza signálů a soustav - 1. opravná zkouška BASS (2010/2011)
- BAEO - Analogové elektronické obvody - BAEO Semestrální Zkouška 2012
- BVEL - Výkonová elektronika - BVEL 13-1- 2012 zkouška zadání
- BHWS - Hardware počítačových sítí - Zkouška z termínu roku 2011 a 2012
- BVEL - Výkonová elektronika - zkouška
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - BEL1 zkouška 12-2011 a 1-2012
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - BCZA zkouška zadání 19-5-2011 v pdf
- BICT - Impulzová a číslicová technika - Závěrečná zkouška 1. termín 9. 5. 2012
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 2012-13 první termín
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 2012-13 předtermín
- BMA3 - Matematika 3 - BMA3 Zkouška 2012-13 předtermín
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - BEL1 Zkouška 2012-13 předtermín
- AMA3 - Matematika 3 - Zkouška předtermín 2012/2013
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 2012-13 1.termín
- AMA3 - Matematika 3 - Zkouška termín 2.1. 2012/2013
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 2012-13 druhý termín
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - BEL1 Zkouška 2012-13 první termín
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 2012-13 2.termín
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - BEL1 Zkouška 2012-13 druhý termín
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 2012-13 třetí termín
- BELA - Elektroakustika - Zkouška 2013 - vypracované
- BEVA - Elektromagnetické vlny, antény a vedení - Zkouška 2013
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - BCZA zkouška zadání 14-5-2013
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - BCZA zkouška zadání 24-5-2013
- BICT - Impulzová a číslicová technika - Zkouška 2013 - 1. termín
- BVFT - Vysokofrekvenční Technika - Zkouška - teoretické otázky 2014
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - BEL1 zkouška _3.2.2014_vysledky_A
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - BEL1 zkouška _3.2.2014_vysledky_B
- MDRE - Diferenciální rovnice a jejich použití v elektrotechnice. - MDRE 2014 zkouska B
- MEFE - English for Life - MEFE zkouška 2014 zimní
- MTEO - Teorie elektronických obvodů - MTEO zkouška 2015 leden
- MDRE - Diferenciální rovnice a jejich použití v elektrotechnice. - Zkouška 5.1.2015
- MTEO - Teorie elektronických obvodů - MTEO zkouška 2015 leden dalsi termin
- MTEO - Teorie elektronických obvodů - MTEO zkouška 2015 leden treti termin
- BMA3 - Matematika 3 - zkouška 5.1.2015
- BMA3 - Matematika 3 - zkouška 5.1.2015 (pozdní skupina)
- MDRE - Diferenciální rovnice a jejich použití v elektrotechnice. - Zkouška MDRE 12.1.2015
- MSMK - Systémy mobilních komunikací - MSMK zkouska leden 2014 FEKT
- MSMK - Systémy mobilních komunikací - MSMK zkouska leden 2014 FEKT pdf
- MTEO - Teorie elektronických obvodů - MTEO Zkouška ctvrty termín 2015
- MTRK - Teorie rádiové komunikace - MTRK zkouška leden 2015
- MPKS - Počítačové a komunikační sítě - MPKS zkouška 5 - 2015
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška 25.5.2015
- BCIF - Číslicové filtry - Zkouška 2015
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - BEL2 ukazkova zkouska 2015
- MPKS - Počítačové a komunikační sítě - MPKS zkouška 1. termín 2016
- MSDS - Směrové a družicové spoje - MSDS zkouška
- MPKS - Počítačové a komunikační sítě - Zkouška 3. termín 2017
Copyright 2025 unium.cz


