- Stahuj zápisky z přednášek a ostatní studijní materiály
- Zapisuj si jen kvalitní vyučující (obsáhlá databáze referencí)
- Nastav si své předměty a buď stále v obraze
- Zapoj se svojí aktivitou do soutěže o ceny
- Založ si svůj profil, aby tě tví spolužáci mohli najít
- Najdi své přátele podle místa kde bydlíš nebo školy kterou studuješ
- Diskutuj ve skupinách o tématech, které tě zajímají
Studijní materiály
Hromadně přidat materiály
Diagnostika a zkušebnictví - zkouška x
BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví
Hodnocení materiálu:
Zjednodušená ukázka:
Stáhnout celý tento materiáltenký svazek elektronů. Speciální vychylovací soustava zajistí, že elektronový svazek postupně dopadne na všechna místa povrchu. Obraz jednotlivých míst vzorku je přenesen na televizní obrazovku, kde je pozorován. Pokud je vzorek dostatečně tenký, lze jej pozorovat v uspořádání na průchod, tj. v transmisním uspořádání. Častěji se však používá uspořádání na odraz, tj. reflexní uspořádání. Obraz je obvykle vytvořen elektrony, které jsou odraženy, popř. emitovány z povrchové vrstvy vzorku po dopadu svazku elektronů s vysokou energií.
15. Požadavky na vzorek u transmisní elektronové mikroskopie: tloušťka vzorku může být jen 0,1 až 5 μm. Vhodná tloušťka vzorku závisí na materiálu a energii elektronů.
16. Spektroskopie: je obor zahrnující všechny metody studia látek založené na interakci mezi elektromagnetickým polem a atomy nebo molekulami měřených látek v plynném, kapalném nebo pevném stavu.
Dělíme podle. 1. Interakce, 2. Podle toho, je-li měřená látka ve formě atomů nebo molekul, 3. Podle velikosti kvanta energie vyměněného při interakci ( neboli podle kmitočtu elektromagnetického pole).
17. Podrobné dělení spektroskopie:
1. Podle typu interakce a.) Emisní spektroskopie; b.)Absorpční spektroskopie; c.)Fluorescenční spektroskopie;
2. Podle toho, je-li měřená látka ve formě atomů nebo molekul: a.)Atomová spektroskopie b.) Molekulová spektroskopie.
3. Podle velikosti kvanta energie vyměněného při interakci ( neboli podle kmitočtu elektromagnetického pole). a.) Rentgenová spektroskopie; b.) Ultrafialova a viditelná spektroskopie; c.) infračervená spektroskopie; d.) Ramanova spektroskopie; e.) Vysokofrekvenční spektroskopie; f.) Elektronová spektroskopie
18. Kvalitativní analýza slouží ke stanovení přítomnosti prvku. Přesahuje-li ve vybuzeném rtg. spektru intenzita char. rtg. kvant o energii anebo vlnové délce příslušející prvku hodnotu spojitého spektra (šumu), pak je prvek v analyzovaném bodě přítomen.. Polohu spektrální čáry ve spektru lze na základě tabelovaných údajů téměř jednoznačně přiřadit chemickému prvku.
Kvantitativní analýza slouží ke stanovení obsahu prvku (v hmotnostních %) a to na základě srovnání intenzity char. rtg. záření určitého prvku změřené na analyzovaném vzorku s intenzitou char. rtg. záření téhož prvku změřenou na vhodném standardu
19. Emisní spektroskopie zahrnuje metody založené na spontánní emisi částice emitované látky přejde přijetím nezářivé energie (např. tepelné) do vybuzeného stavu. Při průchodu z vybuzeného stavu do stavu energeticky nižšího (např. základního) vyzáří částice charakteristické kvantum energie, které je registrováno jako emisní čára o určité vlnové délce. Absolutní hodnota kvanta (vlnová délka, emisní linie) je dána kvalitativním charakterem částic, intenzita potom jejich koncentrací.
20. Difrakce – ohyb
Difrakce záření je změna směru šíření záření vyvolána překážkou a způsobena vlnovou povahou záření.
Difrakce světla je odchylka světelného paprsku od původního směru, zpravidla při průchodu úzkou štěrbinou.
Difrakce částic je ohyb elementárních částic (např. elektronů, neutronů) na krystalové mříži způsobený jejich vlnovým charakterem.
Difraktografie je metoda strukturní analýzy materiálů založená na difrakci. Výsledky se vyhodnocují z difraktogramů, tj. zaregistrovaných difrakčních obrazců vzniklých průchodem elektronů nebo neutronů, resp. rentgenového záření zkoumaným materiálem.
21. Difraktografie:
Rentgenová difraktografie je experimentální technika využívající difrakce rentgenového záření. Slouží ke zkoumání atomové, popř. molekulové struktury tuhých a kapalných látek.
Elektronová difraktografie je částečnou analogii rentgenové difraktografie. Obě techniky využívají jevu difrakce a z difrakčních obrazců umožnují stanovit důležité charakteristiky o struktuře látek, např mřížkové parametry elementární buňky, velikost krystalů polykrystalické látky, orientaci krystalů.
Neutronová difraktografie Používá se především k určení poloh jednotlivých atomů v krystalových strukturách. Zdrojem neutronů pro účely difraktografické jsou řetězové reakce v atomovém reaktoru. Neutrony vznikající v reaktoru se zpomalují pomocí moderátoru tak, aby jejich rychlost klesla na hodnotu tepelné rychlosti molekul. Tím se získají tzv. pomalé neutrony. Vhodným moderátorem je grafit nebo těžká voda.
22. viz 21
23.
Laueova metoda: Svazek spojitého záření, vycházející z wolframové anody, dopadá na krystal, který je v klidu a tím ve stálé poloze vůči dopadajícímu, primárnímu svazku.
Metoda se používá ve dvou prostorových uspořádáních:
24. Rentgenová difrakční topografie
je metoda užívaná ke studiu poruch krystalové mřížky. Využívá difrakce rentgenového záření ke zmapování povrchů, řezů, příp. celých objemů monokrystalických vzorků.
Výhody rentgenové difrakční topografie - umožňuje studovat nedokonalosti uvnitř makroskopicky velkého krystalu bez jeho destrukce při různých teplotách, příp. i za působení silového pole
- dávka záření, potřebná k topografickému pozorování je o několik řádů nižší než dávka potřebná k pozorovatelnému poškození
- velká citlivost na slabé elastické deformace v makroskopicky velkých vzorcích.
Nevýhody rentgenové difrakční topografie
- obraz, který se exponuje na fotografickou emulsi, má zvětšení obvykle kolem jedné, proto musí být zvětšen fotograficky nebo studován optickým mikroskopem.
Pro topografické metody se používá uspořádání na odraz i na průchod.
Ke studiu změn dokonalosti krystalové mřížky jsou používány metody Bergova – Berrathova, Langova a Borrmanova.
25. Bergova – Barrethova metoda
Charakteristické rentgenové záření, cloněné štěrbinou, dopadá na monokrystalický vzorek. Difraktované záření je registrováno fotografickou deskou nebo filmem. Čím je vzdálenost vzorek – film menší, tím větší je rozlišovací schopnost.
Výhodou metody je, že její použití není omezeno tloušťkou vzorku.
26) Popište princip elektronové difraktografie, uveďte aplikace, výhody, nevýhody.
27) Popište princip neutronové difraktografie, uveďte aplikace, výhody, nevýhody.
Rentgenová a elektronová difraktografie (difrakce = ohyb) - využívá odklonění rentgenových paprsků při průchodu krystalem, jehož se využívá např. při objasňování krystalových struktur (vliv má odraz, ohyb, rozptyl paprsků a jejich interference). Jako vzorky se používají vzorky malých rozměrů, monokr
Vloženo: 28.04.2009
Velikost: 87,00 kB
Komentáře
Tento materiál neobsahuje žádné komentáře.
Mohlo by tě zajímat:
Skupina předmětu BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví
Reference vyučujících předmětu BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví
Podobné materiály
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - Skripta Diagnostika a testování el.systémů
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - Skripta Diagnostika a zkušebnictví
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - Skripta Speciální diagnostika
- BDTS - Diagnostika a testování elektronických systémů - Diagnostika a testování el. systému - lab.cvičení
- BDTS - Diagnostika a testování elektronických systémů - Diagnostika a testování el. systému - poč.cvičení
- BDTS - Diagnostika a testování elektronických systémů - Diagnostika a testování el. systému
- BKSY - Komunikační systémy - bksy_zkouska_kapitoly
- BKSY - Komunikační systémy - bksy_zkouska_mega
- BAEO - Analogové elektronické obvody - zkouska_11.1.2006_reseni
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška pondělí 04.12.2006, 07.00
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška pondělí 04.12.2006, 11.00
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška pondělí 04.12.2006, 13.00
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška pondělí 4.12.2006, 13.00 vyprac
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška pondělí 5.12.2005, 13.00
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška pondělí 5.12.2005, 16.00
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška pondělí 5.12.2005, 18.00
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška pondělí 6.12.2004, 14.35
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška úterý 7.12.2004, 10.55
- BASS - Analýza signálů a soustav - Zkouška úterý 7.12.2004, 11.00
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto1
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto10
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto11
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto2
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto3
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto4
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto5
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto6
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto7
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto8
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - zkouška foto9
- BFY2 - Fyzika 2 - Semestrální zkouška A řešení
- BFY2 - Fyzika 2 - Semestrální zkouška B řešení
- BFY2 - Fyzika 2 - Zkouška ABC
- BICT - Impulzová a číslicová technika - zkouška_24_5_2005
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - zkouška řešení 1
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - zkouška řešení 2
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - zkouška řešení 3
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - zkouška řešení 4
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - zkouška řešení 5
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - zkouška řešení 6
- BLDT - Lékařská diagnostická technika - zkouska
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška - 22.1.2007 002
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška - 22.1.2007 003
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška - 22.1.2007 004
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška - 22.1.2007 005
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouska
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 06A vzor
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 06B vzor
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 06E vzor
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 06F vzor
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 06Jvzor
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 06Kvzor
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 06Nvzor
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 06Pvzor
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška vzor op BMA1 05B
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška vzor op BMA1 05D
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška zadání 13
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška zadání 21
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška zadání 23
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška zadání 24
- BMA1 - Matematika 1 - Závěrečná zkouška odpolední(výsledky)
- BMA1 - Matematika 1 - Závěrečná zkouška odpolední
- BMA2 - Matematika 2 - - Zkouska-rozvolneni B
- BMA2 - Matematika 2 - Zkouška zadání 21
- BMA2 - Matematika 2 - Zkouška zadání 22
- BMA2 - Matematika 2 - Zkouška zadání 23
- BMA2 - Matematika 2 - Zkouška zadání 24
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 3
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 4
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 5
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 6
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška7
- BMA3 - Matematika 3 - Zapletal řešená zkouška 06
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouska 01skupinaC
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouska 01skupinaA
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouska 01skupinaB
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 01 skupinaD
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 1
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 2
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška řešení 02A
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška řešení 02B
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška řešení 02C
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška řešení 02D
- BMVE - Měření v elektrotechnice - Zkouška_1
- BMVE - Měření v elektrotechnice - Zkouška_2
- BMVE - Měření v elektrotechnice - Zkouška_3
- BMVE - Měření v elektrotechnice - Zkouška_4
- BPTS - Přístupové a transportní sítě - ZkouškaOtazkyBPTS
- BSHE - Studiová a hudební elektronika - otazky zkouska
- BSHE - Studiová a hudební elektronika - zkouška
- BSIS - Signály a soustavy - zkouška1
- BSIS - Signály a soustavy - zkouška2
- BSIS - Signály a soustavy - zkouška3
- BSIS - Signály a soustavy - zkouška4
- BUMI - Úvod do medicínské informatiky - zkouska3
- BUMI - Úvod do medicínské informatiky - zkouška_14_1_08
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 3
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouska 1.termin
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 1
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 10
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 13
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 14
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 15
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 16
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 2
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 4
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 5
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 6
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 7
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 8
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška 9
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška řeš..
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška řeš.
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška11
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - Zkouška12
- MMUT - Multitaktní systémy - zkouska.MMZS.1termin.09.1.06.cast
- MMUT - Multitaktní systémy - zkouska.MMZS.1termin.09.1.06
- MMUT - Multitaktní systémy - zkouska.MMZS.2termin.16.1.06
- MMUT - Multitaktní systémy - zkouska.MMZS.3termin.23.1.06
- MKVE - Kvantová a laserová elektronika - zkouska_temata
- BCZS - Číslicové zpracování signálů - Zkouška 2009 -1.termín
- BMA2 - Matematika 2 - Zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - Zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMA2 - Matematika 2 - zkouška
- BMPS - Modelování a počítačová simulace - Zkouška
- BMPS - Modelování a počítačová simulace - Zkouška
- BMPS - Modelování a počítačová simulace - Zkouška
- BMPS - Modelování a počítačová simulace - Zkouška
- BMPS - Modelování a počítačová simulace - Zkouška
- BMPS - Modelování a počítačová simulace - Zkouška
- BMPS - Modelování a počítačová simulace - Zkouška
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Zkouška
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Zkouška
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Zkouška
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Zkouška
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Zkouška
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Zkouška
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Zkouška
- BAEY - Analogové elektronické obvody - Zkouška
- BAEY - Analogové elektronické obvody - Zkouška
- BAEY - Analogové elektronické obvody - Zkouška
- BAEY - Analogové elektronické obvody - Zkouška
- BAEY - Analogové elektronické obvody - Zkouška
- BAEY - Analogové elektronické obvody - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - zkouška
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška
- BDOM - Digitální obvody a mikroprocesory - Zkouška různá zadání
- BDOM - Digitální obvody a mikroprocesory - Zkouška
- BESO - Elektronické součástky - SEmestrální zkouška A, náhradní termín a opravný termín
- BESO - Elektronické součástky - Semestrální zkouška B 2007
- BVNP - Vysoké napětí a elektrické přístroje - Zkouška 07 Vávra a Blažek
- BVNP - Vysoké napětí a elektrické přístroje - Zkouška přístroje
- BVPA - Vybrané partie z matematiky - Semestrální zkouška květen05
- BMA3 - Matematika 3 - Staré materiály- přednášky, sbírka, zkouška
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška 2006
- BESO - Elektronické součástky - zkouška 2008
- BESO - Elektronické součástky - zkouška 2008 2
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - Zkouška 12-11-2003
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Zkouška z materiálů BMTD FEKT
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška BMA1 datum 4-1-2010 FEKT VUT
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - BEL1 závěrečná zkouška 8-1-2010 VUT FEKT skupiny A-B.
- BMA1 - Matematika 1 - zkouska
- BMA1 - Matematika 1 - bma1-zkouska-27-1-2010 vut fekt
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - Zkouska bel1 opravna 27-1-2010 vut fekt
- BMA2 - Matematika 2 - BMA2 zkouška květen 2010 řádný termín
- BFY2 - Fyzika 2 - BFY2 zkouška AB 2010 řádný termín
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - BEL2 semestrální zkouška 2010 řádný termín
- BESO - Elektronické součástky - BESO zkouška 2010
- BMA2 - Matematika 2 - BMA2 zkouška první opravný termín 2010
- BFY1 - Fyzika 1 - BFY1 zkouška 12-2009
- BMA3 - Matematika 3 - bma3_zkouska_tahak
- BNEZ - Napájení elektronických zařízení - BNEZ 2010 zkouška předtermín
- BSIS - Signály a soustavy - 2004 BSIS zkouška a řešení
- BMVA - Měření v elektrotechnice - zkouška BMVA 3-1-2011 řešení, řádný termín
- BMA1 - Matematika 1 - BMA1 zkouška 3-1-2011 řešení
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška z BMA1 - řádný termín 3.1.2011
- BAEO - Analogové elektronické obvody - NEW BAEO 11-1-2011 zkouška
- BKOM - Komunikační technologie - zkouška
- BEMV - Elektrotechnické materiály a výrobní procesy - Semestralni zkouska z vyrobnich procesu, leden 2011
- BMA3 - Matematika 3 - Semestralni zkouska BMA3 2010/2011 (1. a 2. termin)
- AUIN - Umělá inteligence v medicíně - Zkouška 21.1.2010
- AUIN - Umělá inteligence v medicíně - Zkouška z 28.1.2010
- AUIN - Umělá inteligence v medicíně - Zkouška z 6.1.2011
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - BKEZ zkouška asi 2010.zip
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - BEL1 zkouška 26-1-2011.zip
- BKEZ - Konstrukce elektronických zařízení - BKEZ zkouška 2011-4
- BEVA - Elektromagnetické vlny, antény a vedení - BEVA 2011 zkouška z 25 května.zip
- BMA3 - Matematika 3 - 2011 zkouška první termín
- BMA3 - Matematika 3 - 2012 zkouška první termín
- BASS - Analýza signálů a soustav - 1. opravná zkouška BASS (2010/2011)
- BAEO - Analogové elektronické obvody - BAEO Semestrální Zkouška 2012
- BVEL - Výkonová elektronika - BVEL 13-1- 2012 zkouška zadání
- BHWS - Hardware počítačových sítí - Zkouška z termínu roku 2011 a 2012
- BVEL - Výkonová elektronika - zkouška
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - BEL1 zkouška 12-2011 a 1-2012
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - BCZA zkouška zadání 19-5-2011 v pdf
- BICT - Impulzová a číslicová technika - Závěrečná zkouška 1. termín 9. 5. 2012
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 2012-13 první termín
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 2012-13 předtermín
- BMA3 - Matematika 3 - BMA3 Zkouška 2012-13 předtermín
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - BEL1 Zkouška 2012-13 předtermín
- AMA3 - Matematika 3 - Zkouška předtermín 2012/2013
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 2012-13 1.termín
- AMA3 - Matematika 3 - Zkouška termín 2.1. 2012/2013
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 2012-13 druhý termín
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - BEL1 Zkouška 2012-13 první termín
- BMA3 - Matematika 3 - Zkouška 2012-13 2.termín
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - BEL1 Zkouška 2012-13 druhý termín
- BMA1 - Matematika 1 - Zkouška 2012-13 třetí termín
- BELA - Elektroakustika - Zkouška 2013 - vypracované
- BEVA - Elektromagnetické vlny, antény a vedení - Zkouška 2013
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - BCZA zkouška zadání 14-5-2013
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - BCZA zkouška zadání 24-5-2013
- BICT - Impulzová a číslicová technika - Zkouška 2013 - 1. termín
- BVFT - Vysokofrekvenční Technika - Zkouška - teoretické otázky 2014
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - BEL1 zkouška _3.2.2014_vysledky_A
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - BEL1 zkouška _3.2.2014_vysledky_B
- MDRE - Diferenciální rovnice a jejich použití v elektrotechnice. - MDRE 2014 zkouska B
- MEFE - English for Life - MEFE zkouška 2014 zimní
- MTEO - Teorie elektronických obvodů - MTEO zkouška 2015 leden
- MDRE - Diferenciální rovnice a jejich použití v elektrotechnice. - Zkouška 5.1.2015
- MTEO - Teorie elektronických obvodů - MTEO zkouška 2015 leden dalsi termin
- MTEO - Teorie elektronických obvodů - MTEO zkouška 2015 leden treti termin
- BMA3 - Matematika 3 - zkouška 5.1.2015
- BMA3 - Matematika 3 - zkouška 5.1.2015 (pozdní skupina)
- MDRE - Diferenciální rovnice a jejich použití v elektrotechnice. - Zkouška MDRE 12.1.2015
- MSMK - Systémy mobilních komunikací - MSMK zkouska leden 2014 FEKT
- MSMK - Systémy mobilních komunikací - MSMK zkouska leden 2014 FEKT pdf
- MTEO - Teorie elektronických obvodů - MTEO Zkouška ctvrty termín 2015
- MTRK - Teorie rádiové komunikace - MTRK zkouška leden 2015
- MPKS - Počítačové a komunikační sítě - MPKS zkouška 5 - 2015
- BESO - Elektronické součástky - Zkouška 25.5.2015
- BCIF - Číslicové filtry - Zkouška 2015
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - BEL2 ukazkova zkouska 2015
- MPKS - Počítačové a komunikační sítě - MPKS zkouška 1. termín 2016
- MSDS - Směrové a družicové spoje - MSDS zkouška
- MPKS - Počítačové a komunikační sítě - Zkouška 3. termín 2017
Copyright 2025 unium.cz


