- Stahuj zápisky z přednášek a ostatní studijní materiály
- Zapisuj si jen kvalitní vyučující (obsáhlá databáze referencí)
- Nastav si své předměty a buď stále v obraze
- Zapoj se svojí aktivitou do soutěže o ceny
- Založ si svůj profil, aby tě tví spolužáci mohli najít
- Najdi své přátele podle místa kde bydlíš nebo školy kterou studuješ
- Diskutuj ve skupinách o tématech, které tě zajímají
Studijní materiály
Zjednodušená ukázka:
Stáhnout celý tento materiálmovém médiu interferuje s referenčním svazkem, čímž dojde k uložení datové stránky.
Čtení dat
Referenční paprsek ozařuje hologram, ohybem na zaznamenaných mřížkách dochází k rekonstrukci pole bitů. Zrekonstruovaná sada dat se promítá na detektor složený z pole pixelů (princip detektorů z digitálních fotoaparátů) s paralelním čtením . Rychlost holografického čtení dosahuje až 100 MB/s.
Záznamové materiály
- anorganické
- polymerní
Využívané principy:
Změna indexu lomu jako důsledek různého vnitřního pnutí v tepelně obráběné tenké vrstvě.
Změny absorpce fotochromních molekul po ozáření.
Změna dvojlomných vlastností vznikem optické anisotropie polymerací ozářením.
Změna dvojlomných vlastností reorientací chromoforů azo-barviv po ozáření.
Změna absorpce směsi dvou poplymerních složek, z nichž jedna po ozáření vytváří matrici, ve které tvoří záznam druhá složka, která je fotocitlivá.
Záznamová kapacita v současnosti – 300GB na 13 cm disku
Příklad realizace: Disk průměr 13 cm, tloušťka 3,5 mm, tl. záznamové vrstvy 1,5 mm, tl. nosiče 1 mm
Fluorescenční vícevrstvý disk – FMD ROM
Vícevrstvý disk osahuje řadu tenkých substrátů oddělených tenkými fluorescenčními vrstvami. Ty emitují po ozáření laserem světlo s odlišnou vlnovou délkou než má záření budicí. Vlnové délky emitované z jednotlivých vrstev se liší. Použitím selektivních filtrů se od sebe odliší čtené informace. z emitovaného světla. Předpokládaný počet vrstev je asi 100, kapacita media při užití modrého laseru je až 1 TB. Paprsek prochází všemi vrstvami zároveň, čtení je paralelní. Přenosová rychlost se odhaduje na 1 GB/s.
Mempile TeraDisc
Využívá vlastností nelineární optiky, kdy některé jevy (např. adsorpce, elektrická polarizace) jsou
výraznější při vyšších intenzitách elmag. záření. Záznamové medium sestává s vrstev modifikovaného PMMA (polymethyl-methakrylát). Záření laseru je zaostřeno na vybranou vrstvu. V tomto místě reagují fotochromní molekuly PMMA a změní absorpci. Při předpokládaném počtu vrstev 200 a tloušťce vrstvy 5 mikrometrů je odhadovaná kapacita disku (600 až 800) GB.
HDD - současnost a perspektiva
DPS
Měkké pájení
Tvorba pájeného spoje – složky procesu
Metody pájení
Vlnou
Pájení přetavením – v prachách
Působení pájky bez Pb na díly pájecího zařízení
Tvorba intermetalické sloučeniny FeSn2 ->narušení nádob a trysek rozpouštěním
ušlechtilé oceli ->vměstky v objemu pájeného spoje
VADY PÁJENÝCH SPOJŮ
Způsobené
• deskou s plošnými spoji
• součástkou
• procesem
Krápníky, můstky, pavučina, „popcorning“( delaminace plastového pouzdra součástky vznikem vodní páry při zahřátí z absorbované vlhkosti)
Optická kontrola
Elektrická kontrola
RTG inspekce
Sled skupin výrobních operací, které je vhodné/potřebné kontrolovat:
Nanesení pastovité pájky nebo lepidla.
Osazení součástek čipových.
Osazení součástek vícevývodových (QFP, BGA).
Pájení (přetavením, vlnou), po vytvrzení lepidla.
Vznikají typické skupiny vad, které je třeba VČAS odhalit:
Nesprávné nanesení pájky nebo lepidla – objem (výška, tvar), umístěnívzhledem k připojovací plošce, rozstříknutí, „ušpinění“ prázdných míst, vynechání apod.
Osazení nesprávné součástky (typ, hodnota), otočení (polarita), umístění, poškození, vynechání atd.
Vady pájení a lepení – tvar spoje (dutý či vypuklý povrch), chybějící spoj, zkrat mezi sousedními vývody (můstek pájky), volné kuličky pájky, rozlité vodivé lepidlo, nesmočený povrch, dutiny a městky v objemu spoje, lepidlo či pájka na testovací plošce atd.
Ve většině případů lze užít optické kontroly v oboru viditelného světla► automatická optická prohlídka = AOI (Automatic Optic Inspection). Dále se užívá rentgenové záření - prozařování s proměnným směrem záření a počítačová tomografie.
AOI v toku výroby:
Koncepce AOI Koncepce AOI
Kamery se standardní Kamery se standardním a vysokým rozlišením, 4 různé směry osvětlení.
Vyhodnocování tva
Vloženo: 21.06.2009
Velikost: 2,52 MB
Komentáře
Tento materiál neobsahuje žádné komentáře.
Mohlo by tě zajímat:
Skupina předmětu X13KAT - Konstrukce a technologie
Reference vyučujících předmětu X13KAT - Konstrukce a technologie
Podobné materiály
- 36APC - Automatizace projektování číslicových systémů - VHDL Tahák
- X01MA2 - Matematika 2 - Tahák Tkadlec
- X12UEM - Úvod do elektrotechnických materiálů - Tahák
- X31EO2 - Elektrické obvody 2 - Tahák
- X35ESY - Elektronické systémy - Tahák na zkoušku
- X35ESY - Elektronické systémy - Další tahák na zkoušku (optimalizace pro TI-89)
- X35ESY - Elektronické systémy - Další tahák na zkoušku
- Y01ALG - Úvod do algebry - tahák - definice ke zkoušce - TheBigOne
- X01MA1 - Matematika 1 - - Matika1 - vzorce (tahak)
- 34EL - Elektronika - tahak na pisomku
- X36PJV - Programování v jazyku Java - tahak html
- X36PJV - Programování v jazyku Java - tahak
- 01UA - Úvod do algebry - tahak
- 01UA - Úvod do algebry - tahak
- 01UA - Úvod do algebry - tahak
- X12BP1 - Bezpečnost v elektrotechnice 1 - tahak z becpecnosti
- X12UEM - Úvod do elektrotechnických materiálů - tahak na konstanty
- X12UEM - Úvod do elektrotechnických materiálů - mikro tahak - vzorec
- X12UEM - Úvod do elektrotechnických materiálů - tahak na priklady
- X12UEM - Úvod do elektrotechnických materiálů - tahak teoria
- X37SAS - Signály a systémy - tahak na 2. test
- X12MTE - Materiály a technologie pro elektroniku - tahak na skusku MTE
- X02FY1 - Fyzika 1 - Tahák zkouškových příkladů
- 02ASF - Astrofyzika - Test hvězdy
- 02ASF - Astrofyzika - Test kosmologie
- 02ASF - Astrofyzika - Test plazma
- 02ASF - Astrofyzika - Test gravitace
- 02ASF - Astrofyzika - Test mlhoviny
- 02ASF - Astrofyzika - Test orientace na obloze
- 02ASF - Astrofyzika - Test sluneční soustava
- 02ASF - Astrofyzika - Test řešení 1
- 02ASF - Astrofyzika - Test řešení 2
- X02FY1 - Fyzika 1 - Test
- X12TDO - Technická dokumentace - Zápočtový test varianta 17
- X12TDO - Technická dokumentace - Zápoštový test Novák
- X16EKO - Ekonomika - Zadání Minitestu a info k maxitestu
- X34ELE - Elektronika - Opravný zápočtový test 29.5.07
- X34ELE - Elektronika - Zápočtový test
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 10.1.09
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 12.1.05
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 13.1.04
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 13.1.05
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 13.1.09
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 14.1.04
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 14.1.05
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 15.1.05
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 4.1.07
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 6.1.06
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 7.1.06
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 7.1.09
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 8.1.06
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 9.1.06
- Y04A2L - Anglický jazyk 2-2 - Sample Exam Test
- Y04A2L - Anglický jazyk 2-2 - Sample Test Answer Key
- Y04A2L - Anglický jazyk 2-2 - Sample Test
- Y04A2L - Anglický jazyk 2-2 - Semestrální test A Kubečková
- Y04A2L - Anglický jazyk 2-2 - Semestrální test BKubečková
- Y04A2L - Anglický jazyk 2-2 - Semestrální test Valentová
- Y04A2L - Anglický jazyk 2-2 - Semestrální testy Vernerová
- Y04A2L - Anglický jazyk 2-2 - Zadání zkoušky - test A a B
- Y04A2Z - Anglický jazyk 2-1 - Final test A Kubečková
- Y04A2Z - Anglický jazyk 2-1 - Final test BKubečková
- X02ASF - Astrofyzika - test
- 16EPO - Ekonomika podnikání - test
- 16EPO - Ekonomika podnikání - test
- 16EPO - Ekonomika podnikání - test
- 16EPO - Ekonomika podnikání - test
- 01UA - Úvod do algebry - test
- 01UA - Úvod do algebry - skuskovy test
- 01UA - Úvod do algebry - skuskovy test
- 01UA - Úvod do algebry - skuskovy test
- 01UA - Úvod do algebry - skuskovy test 3 varianty
- 01UA - Úvod do algebry - skuskovy test
- 01UA - Úvod do algebry - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test s riesenim
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test s riesenim
- X12BP1 - Bezpečnost v elektrotechnice 1 - zadanie testu
- X12UEM - Úvod do elektrotechnických materiálů - zadania skuskovych testov
- X38EMB - Elektrická měření B - nove varianty skuskovych testov - vypracovane
- X37CAD - CAD ve sdělovací technice - vypracovane otazky z teorie na zapoctovy test
- 36UPS - Úvod do počítačových systémů - okruh otazok na zapoctovy test
- X13KAT - Konstrukce a technologie - poznamky z prednasok, staci to na prvy test
- X16EPD - Ekonomika podnikání - skuskovy test c 50
- X16EPD - Ekonomika podnikání - zadania skuskovych testov
- X16EPD - Ekonomika podnikání - zadanie testu
- X16EPD - Ekonomika podnikání - zadanie testu
- X01ALG - Úvod do algebry - zadania skuskovych testov
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test 21.1.2008
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test 11.1.2007
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test 14.1.2008
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test 28.1.
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test 21.2.2008
- X01ALG - Úvod do algebry - ukazkovy skuskovy test 2006
- A3B01MA1 - Matematika 1 - Zkouskovy test 5.1.2009
- A0B01LAG - Lineární Algebra - písemný test LAG (11.1.2010)
- A0B01LAG - Lineární Algebra - Pisemni zkouskovy test 14.1.2010 (!!)
- A0B01LAG - Lineární Algebra - pisemny zkouskovy test 21.01.2010
- A0B01LAA - Lineární algebra a aplikace - zkouškový test 25.1.2010
- A3B01MA1 - Matematika 1 - zkouskovy test 19.1.2010
- A3B01MA1 - Matematika 1 - zkouskovy test 28.1.2010
- A0B01LAG - Lineární Algebra - pisemny zkouskovy test 1.02.2010
- A3B02FY1 - Fyzika 1 pro KyR - Test 30.3.2010 sk.A
- A3B02FY1 - Fyzika 1 pro KyR - Test 30.3.2010 sk.B
- A3B02FY1 - Fyzika 1 pro KyR - Zadání testů 4.5.2010 skupina A, B
- A0B01LGR - Logika a grafy - test
- A3B01MA2 - Matematika 2 - Zadání testu 1.6.2010
- A3B02FY1 - Fyzika 1 pro KyR - Zkouška 9.6.2010 test A
- A3B02FY1 - Fyzika 1 pro KyR - Zkouška 9.6.2010 test B
- A3B01MA2 - Matematika 2 - Zadání z testu ze 17.6.
- A3B02FY1 - Fyzika 1 pro KyR - skouskovy test 1,7.2010
- A3B31EOP - Elektrické obvody a prvky - test z 5.11.2010 7:30
- A3B02FY2 - Fyzika 2 pro KyR - Zadani testu 22.12.2010
- A3B02FY2 - Fyzika 2 pro KyR - Zkouškový test z 22.12.2010, skup. B
- A3B02FY2 - Fyzika 2 pro KyR - Test č. 14 - 22.12.2010
- A3B02FY2 - Fyzika 2 pro KyR - Zkouškový test 4.1.2011 skup. A
- A3B02FY2 - Fyzika 2 pro KyR - Zápočtový test - verze č. 8
- A3B01MA1 - Matematika 1 - zkouškový test 5.1.2011
- A3B31EOP - Elektrické obvody a prvky - zkouškový test, 6.1.2011
- A3B02FY2 - Fyzika 2 pro KyR - Zkouškový test A 6.1.2010
- A3B31EOP - Elektrické obvody a prvky - Zkouškový test 6.1.2011
- A3B02FY2 - Fyzika 2 pro KyR - Zadání testu
- A0B01PSI - Pravděpodobnost, statistika a teorie informace - Zkouškový test z PSI 4.1.2011
- A0B01PSI - Pravděpodobnost, statistika a teorie informace - Zkouškový test 1.2.2011
- A3B38MMP - Mikroprocesory a mikrořadiče v přístrojové technice - Test 24.5.2011
- A3B33OSD - Operační systémy a databáze - Test 25.5.2011
- A3B35ARI - Automatické řízení - ARI skúškový test 6.6.2011
- A3B38MMP - Mikroprocesory a mikrořadiče v přístrojové technice - Test v semestri 12.4.2011
- A0B36PRI - Programování - Prémiový test 2013
- A1B16MME - Makro a mikroekonomika - 2. sada testů
- A1B16MME - Makro a mikroekonomika - 4. sada testů
- A0M32IBE - Informační bezpečnost - Test
Copyright 2025 unium.cz


