- Stahuj zápisky z přednášek a ostatní studijní materiály
- Zapisuj si jen kvalitní vyučující (obsáhlá databáze referencí)
- Nastav si své předměty a buď stále v obraze
- Zapoj se svojí aktivitou do soutěže o ceny
- Založ si svůj profil, aby tě tví spolužáci mohli najít
- Najdi své přátele podle místa kde bydlíš nebo školy kterou studuješ
- Diskutuj ve skupinách o tématech, které tě zajímají
Studijní materiály
Zjednodušená ukázka:
Stáhnout celý tento materiálgnálu. Synchronizací pohybu elektronového svazku po preparátu a odpovídajícího bodu na monitoru vznikne obraz, jehož zvětšení se dá měnit změnou velikosti ozářené oblasti.
Jako sondy pro „čtení“ obrazu lze použít velmi tenkého hrotu. To je způsob využívaný u mikroskopie rastrovací sondou (SPM – scanning probe microscopy). Velmi tenký hrot, jehož pohyb ve všech směrech je ovládán piezoelektrickými krystaly, interaguje s povrchem vzorku tak, že je možno zvolit způsob této interakce, totiž přímý dotyk, pohyb v určité (malé) vzdálenosti od povrchu či tlak hrotu na povrch vzorku podle atomárních sil mezi krystalovým hrotem a povrchem vzorku. Toto je podstata metody mikroskopie atomárních sil (AFM – atomic force microscopy), používané pro nevodivé vzorky. Souřadnice poloh hrotu jsou zaznamenány počítačem a z těchto souřadnic se pak rekonstruuje obraz vzorku. Pro vodivý vzorek je navíc možná volba pohybu hrotu ve vzdálenosti od povrchu, která je určována zvoleným proudem procházejícím mezi hrotem a vzorkem (tunelovacím proudem, odtud tunelovací mikroskopie, STM – scanning tunneling microscopy). Jako u každé mikroskopické metody, i zde je možnost její aplikace omezena na relativně hladké a rovné povrchy, avšak její předností je extrémní rozlišovací schopnost, která může dosahovat až rozlišitelnosti jednotlivých atomů.
Tabulky z programu Electron fligth simulation – Simulace dráhy elektronu
Materiál
AL2O3
Počet trajektorií
7200
Napětí na katodě [KV]
50
BS koeficient
0,1018
Šíře [µm]
17,54
Max. hloubka vniku [µm]
14
Materiál
PbS
Počet trajektorií
4500
Napětí na katodě [KV]
30
BS koeficient
0,4207
Šíře [µm]
5,92
Max. hloubka vniku [
Vloženo: 28.04.2009
Velikost: 746,50 kB
Komentáře
Tento materiál neobsahuje žádné komentáře.
Mohlo by tě zajímat:
Skupina předmětu BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví
Reference vyučujících předmětu BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví
Podobné materiály
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - BCZA1_uvod
- BEMC - Elektromagnetická kompatibilita - Prezentace úvod
- BFY1 - Fyzika 1 - Úvod do mechaniky
- BMVE - Měření v elektrotechnice - Stručný úvod do problematiky nejistot měření
- BFY1 - Fyzika 1 - Skripta Průvodce studia předmětu Fyzika 1
- AKME - Úvod do klinické medicíny - Uvod_do_klinicke_mediciny
- ALDT - Lékařská diagnostická technika - ALDT_T1_uvod
- MDTV - Digitální televizní a rozhlasové systémy - Úvod do oblasti digitální televize a digitálního rozhlasu
Copyright 2025 unium.cz


