- Stahuj zápisky z přednášek a ostatní studijní materiály
- Zapisuj si jen kvalitní vyučující (obsáhlá databáze referencí)
- Nastav si své předměty a buď stále v obraze
- Zapoj se svojí aktivitou do soutěže o ceny
- Založ si svůj profil, aby tě tví spolužáci mohli najít
- Najdi své přátele podle místa kde bydlíš nebo školy kterou studuješ
- Diskutuj ve skupinách o tématech, které tě zajímají
Studijní materiály
Zjednodušená ukázka:
Stáhnout celý tento materiálTeoretický úvod
U skanovacích mikroskopů se pro „čtení“ preparátu využívá různých typů sond. U rastrovacího elektronového mikroskopu je to elektronový svazek, generovaný elektro-novým dělem podobně jako u transmisního elektronového mikroskopu, avšak soustředěný do co nejmenší plochy, je možno říci do bodu. Nejlepší možné rozlišení pak závisí na rozměru tohoto bodu. Interakcí elektronového svazku s preparátem vzniká celá řada signálů, za všechny uveďme jen zpětně odražené elektrony, sekundární elektrony a záření X. Každý ze signálů je možno využít k získání obrazu a každý takový obraz pak vypovídá o vzorku poněkud jiným způsobem. Zobrazení s použitím sekundárních elektronů má nejlepší rozlišení a používá se hlavně k získání informace o povrchové topografii (povrchovém reliéfu) zobrazovaného vzorku. Zobrazení získané detekcí zpětně odražených elektronů nesou rovněž informace o materiálovém složení vzorku v daném místě, má však nižší rozlišení, neboť detekovaný signál vzniká ve větším objemu kolem dopadajícího svazku. Ze záření X vzniklého dopadem elektronového svazku na preparát se využívá jeho charakteristická složka, tj. charakteristické záření X. Takto je možno ve zvoleném místě preparátu stanovit jeho chemické složení, nebo se dá vytvořit obraz rozložení zvoleného prvku na preparátu. Tento způsob prvkové mikroanalýzy je velmi důležitým a velmi využívaným nástrojem v materiálovém výzkumu.
Zvolený signál (sekundární elektrony, zpětně odražené elektrony a další) se detekuje vhodným detektorem a po elektronickém zpracování se zobrazí na televizní obrazovce jako světlý bod, jehož intenzita je úměrná intenzitě detektovaného si
Vloženo: 28.04.2009
Velikost: 746,50 kB
Komentáře
Tento materiál neobsahuje žádné komentáře.
Mohlo by tě zajímat:
Skupina předmětu BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví
Reference vyučujících předmětu BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví
Podobné materiály
- BCZA - Číslicové zpracování a analýza signálů - BCZA1_uvod
- BEMC - Elektromagnetická kompatibilita - Prezentace úvod
- BFY1 - Fyzika 1 - Úvod do mechaniky
- BMVE - Měření v elektrotechnice - Stručný úvod do problematiky nejistot měření
- BFY1 - Fyzika 1 - Skripta Průvodce studia předmětu Fyzika 1
- AKME - Úvod do klinické medicíny - Uvod_do_klinicke_mediciny
- ALDT - Lékařská diagnostická technika - ALDT_T1_uvod
- MDTV - Digitální televizní a rozhlasové systémy - Úvod do oblasti digitální televize a digitálního rozhlasu
Copyright 2024 unium.cz