- Stahuj zápisky z přednášek a ostatní studijní materiály
- Zapisuj si jen kvalitní vyučující (obsáhlá databáze referencí)
- Nastav si své předměty a buď stále v obraze
- Zapoj se svojí aktivitou do soutěže o ceny
- Založ si svůj profil, aby tě tví spolužáci mohli najít
- Najdi své přátele podle místa kde bydlíš nebo školy kterou studuješ
- Diskutuj ve skupinách o tématech, které tě zajímají
Studijní materiály
Hromadně přidat materiály
Elektronová mikroskopie - moje
BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví
Hodnocení materiálu:
Zjednodušená ukázka:
Stáhnout celý tento materiálSemestrální práce
Elektronová mikroskopie
Jméno: Jan Šelepa
Předmět: Diagnostika a zkušebnictví
Rok: 2006 / 2007
Úvod:
Mikroskopické zobrazovací techniky můžeme podle způsobu vytváření obrazu rozdělit do dvou základních skupin. Všeobecně známé jsou mikroskopické techniky, u nichž se obraz vytváří pomocí čoček. Typickými příklady jsou světelná a transmisní (prozařovací) elektronová mikroskopie. Druhý typ zobrazovacích zařízení jsou rastrovací či skanovací mikroskopy, u nichž se preparát „prohlíží“ bod po bodu a celkový obraz vzniká složením jednotlivých bodů. O tomto druhém typu pojednává následující semestrální práce.
Elektronové mikroskopy:
U skanovacích mikroskopů se pro „čtení“ preparátu využívá různých typů sond. U rastrovacího elektronového mikroskopu je to elektronový svazek, generovaný elektro-novým dělem podobně jako u transmisního elektronového mikroskopu, avšak soustředěný do co nejmenší plochy, je možno říci do bodu. Nejlepší možné rozlišení pak závisí na rozměru tohoto bodu. Interakcí elektronového svazku s preparátem vzniká celá řada signálů, za všechny uveďme jen zpětně odražené elektrony, sekundární elektrony a záření X. Každý ze signálů je možno využít k získání obrazu a každý takový obraz pak vypovídá o vzorku poněkud jiným způsobem. Zobrazení s použitím sekundárních elektronů má nejlepší rozlišení a používá se hlavně k získání informace o povrchové topografii (povrchovém reliéfu) zobrazovaného vzorku. Zobrazení získané detekcí zpětně odražených elektronů nesou rovněž informace o materiálovém složení vzorku v daném místě, má však nižší rozlišení, neboť detekovaný signál vzniká ve větším objemu kolem dopadajícího svazku. Ze záření X vzniklého dopadem elektronového svazku na preparát se využívá jeho charakteristická složka, tj. charakteristické záření X. Takto je možno ve zvoleném místě preparátu stanovit jeho chemické složení, nebo se dá vytvořit obraz rozložení zvoleného prvku na preparátu. Tento způsob prvkové mikroanalýzy je velmi důležitým a velmi využívaným nástrojem v materiálovém výzkumu.
Zvolený signál (sekundární elektrony, zpětně odražené elektrony a další) se detekuje vhodným detektorem a po elektronickém zpracování se zobrazí na televizní obrazovce jako světlý bod, jehož intenzita je úměrná intenzitě detektovaného signálu. Synchronizací pohybu elektronového svazku po preparátu a odpovídajícího bodu na monitoru vznikne obraz, jehož zvětšení se dá měnit změnou velikosti ozářené oblasti.
Jako sondy pro „čtení“ obrazu lze použít velmi tenkého hrotu. To je způsob využívaný u mikroskopie rastrovací sondou (SPM – scanning probe microscopy). Velmi tenký hrot, jehož pohyb ve všech směrech je ovládán piezoelektrickými krystaly, interaguje s povrchem vzorku tak, že je možno zvolit způsob této interakce, totiž přímý dotyk, pohyb v určité (malé) vzdálenosti od povrchu či tlak hrotu na povrch vzorku podle atomárních sil mezi krystalovým hrotem a povrchem vzorku. Toto je podstata metody mikroskopie atomárních sil (AFM – atomic force microscopy), používané pro nevodivé vzorky. Souřadnice poloh hrotu jsou zaznamenány počítačem a z těchto souřadnic se pak rekonstruuje obraz vzorku. Pro vodivý vzorek je navíc možná volba pohybu hrotu ve vzdálenosti od povrchu, která je určována zvoleným proudem procházejícím mezi hrotem a vzorkem (tunelovacím proudem, odtud tunelovací mikroskopie, STM
Vloženo: 28.05.2009
Velikost: 76,50 kB
Komentáře
Tento materiál neobsahuje žádné komentáře.
Mohlo by tě zajímat:
Skupina předmětu BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví
Reference vyučujících předmětu BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví
Podobné materiály
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - Elektronová mikroskopie - moje
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - Elektronová mikroskopie
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - Elektronová mikroskopie transmisní a rastrovací
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - Elektronová mikroskopie
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - Protokol elektronová mikroskopie
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - El. mikroskopie a mikroanalýza
- BRR1 - Řízení a regulace 1 - Všechny moje projekty
- BPSO - Pedagogická psychologie - Jaká je moje osoba
Copyright 2024 unium.cz