- Stahuj zápisky z přednášek a ostatní studijní materiály
- Zapisuj si jen kvalitní vyučující (obsáhlá databáze referencí)
- Nastav si své předměty a buď stále v obraze
- Zapoj se svojí aktivitou do soutěže o ceny
- Založ si svůj profil, aby tě tví spolužáci mohli najít
- Najdi své přátele podle místa kde bydlíš nebo školy kterou studuješ
- Diskutuj ve skupinách o tématech, které tě zajímají
Studijní materiály
Hromadně přidat materiály
Elektronový mikroskop
BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví
Hodnocení materiálu:
Zjednodušená ukázka:
Stáhnout celý tento materiálktronového mikroskopu jsou uloženy ve vzduchotěsné válcové nádobě, z níž je vyčerpán vzduch, aby se proud elektronů nezeslaboval.
K přípravě vzorků pro transmisní elektronový mikroskop se používá několik metod:
metoda obtisků (replik) - povrch silnější než 10 - 50 nm se pokrývá replikou. To může být např. roztok celulózy, který se nakápne na pozorovaný povrch a nechá se roztéct. Po zaschnutí repliku sejmeme a pozorujeme.
příprava ultratenkých řezů - používá se zařízení zvané ultramikroton. Obsahuje fixní skleněný nůž a masivní ocelovou tyč, na níž je upevněn vzorek. Tyč se otáčí a je ohřívána průchodem proudu, čímž dojde k jejímu prodloužení a uříznutí části vzorku.
elektrochemické leptání - vzorek (cca 100µm) je elektrochemicky leptán nebo iontově poprašován. V místě, kde se vzorek proleptá jej pozorujeme.
Rastrovací elektronový mikroskop
Rastrovací elektronový mikroskop pracuje tak, že na vzorek dopadá tenký svazek elektronů, který dopadá postupně na všechna místa vzorku. Odražený (emitovaný) paprsek se převádí na viditelný obraz.
Mech. clona - vybírá pouze část elektronů, které dopadnou na preparát.
Projekční čočka - způsobí, aby zaostřený svazek elektronů dopadl na preparát.
Zaostřený svazek elektronů musí po povrchu preparátu rastrovat synchronně s TV.
Rozlišujeme čtyři skupiny elektronů opouštějící povrch vzorku:
zpětně odražené elektrony - poskytují informaci o topografii (reliéfu) vzorku a o materiálovém složení. Jejich rozlišovací schopnost je 50-200nm.
sekundární elektrony - poskytují informaci převážně topografickou. Rozlišovací schopnost je 5-15 nm.
augerovy elektrony - jsou vyráženy z materiálu a zjištěním jejich energie lze provádět prvkovou (kvalitativní) analýzu.
primární elektrony - detekují se jako u transmisního elektronového mikroskopu (0,5 nm).
Dále pak můžeme detekovat i RTG záření nebo i viditelné světlo, což nám umožní získat další informace o zkoumaném vzorku.
Vzorek může být 2-3 cm tlustý a 15 c
Vloženo: 28.05.2009
Velikost: 66,00 kB
Komentáře
Tento materiál neobsahuje žádné komentáře.
Mohlo by tě zajímat:
Skupina předmětu BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví
Reference vyučujících předmětu BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví
Podobné materiály
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - El. mikroskopie a mikroanalýza
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - Elektronová mikroskopie - moje
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - Elektronová mikroskopie
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - Elektronová mikroskopie - moje
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - Elektronová mikroskopie transmisní a rastrovací
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - Elektronová mikroskopie
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - Protokol elektronová mikroskopie
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - Elektr.mikroskop
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - Mikroskop
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - Obrázek- mikroskopy
Copyright 2025 unium.cz


