Elektronová mikroskopie - moje

– scanning tunneling microscopy). Jako u každé mikroskopické metody, i zde je možnost její aplikace omezena na relativně hladké a rovné povrchy, avšak její předností je extrémní rozlišovací schopnost, která může dosahovat až rozlišitelnosti jednotlivých atomů.
Jiný způsob zobrazení rastrovací technikou, řazený také mezi techniky SPM, je mikroskopie blízkého pole (near-field scanning optical microscopy – NSOM). Využívá jako „čtecí“ sondy velmi tenký světelný paprsek, který je do velmi těsné blízkosti povrchu vzorku přiveden tenkým světlovodivým vláknem. Pohyb vlákna je opět řízen piezoelektrickými krystaly a obraz se opět skládá ze signálů získaných ozářením jednotlivých bodů preparátu. Předností této složité techniky je lepší rozlišení, než dovoluje klasická zobrazovací světelná mikroskopie.
Mikroskopické techniky musíme rozlišovat podle možností zobrazování jednotlivých typů preparátů – tedy vlastně podle typu informace, které o studovaném objektu potřebujeme získat. Buďto potřebujeme získat informace o povrchu preparátu, nebo o jeho vnitku. Zdálo by se, že shora uvedené dělení mikroskopických technik už toto rozlišení poskytuje, ale není tomu tak zcela úplně. Existují zde překryvy: světelná mikroskopie dovoluje pozorování světla odraženého od povrchu preparátu, rastrovací elektronová mikroskopie umožňuje (s příslušnou instrumentací) analyzovat prvkové složení preparátu v poměrně velkém objemu.
Příprava preparátu – možnosti preparačních technik
U prozařovací elektronové mikroskopie je celková tloušťka preparátu omezena na tloušťku do asi jednoho sta nanometrů (0,1 μm), nejlépe ještě menší. Namísto podložního skla můžeme použít tenký napařený uhlíkový film, který i s preparátem nepřesahuje tuto tloušťku. Uložení preparátu na nosné síťce s mikroskopickými otvory je tak nutností (celkový průměr síťky 3 mm, typický počet otvorů v síťce může být kolem tisíce), pozorovat objekt je možné jen v oblastech otvorů v síťce.
U technik zobrazujících povrch musíme respektovat skutečnost, že pozorujeme převážně jen tento povrch. U takového preparátu většinou nezáleží na velikosti objektu, omezením je jen velikost pracovního prostoru mikroskopického zařízení; velikost preparátu se pak dá snadno upravit seříznutím či odříznutím nedůležitých částí objektu. Někdy je třeba pamatovat na zajištění dostatečné rovinnosti objektu (např. u mikroskopie atomárních sil, nebo vzhledem k malé hloubce ostrosti u světelné odrazové mikroskopie).
Preparace práškových materiálů, disperzí, nebo dostatečně tenkých filmů je nejjed-nodušší ze všech preparačních technik. Stačí je nanést na patřičnou podložku. Avšak pro prozařovací elektronovou mikroskopii může i toto být dosti obtížný problém.
U objemnějších objektů (bloků) je často třeba odkrýt strukturu vnitřku. Zde pak máme v zásadě tři možnosti preparace: řez, lom, nebo lept. Příprava tenkých řezů pro světelnou mikroskopii nebo ultratenkých řezů pro prozařovací elektronovou mikroskopii je samostatnou a poměrně obtížnou problematikou. Menší objekty, zvláště nepravidelné, je často třeba uzpůsobit pro řezání tím, že se zalijí do pryskyřice o vhodných vlastnostech. Ultratenké řezy (tlusté kolem 50 nm) zahrnují plochu kolem 0,01 mmP2P až 0,02 mmP2P (přibližně obdélníkový řez o stranách kolem 0,1 mm a 0,1 až 0,2 mm). Uvědomíme-li si, že tloušťka běžného kancelářského papíru je 0,1 mm a že tot