- Stahuj zápisky z přednášek a ostatní studijní materiály
- Zapisuj si jen kvalitní vyučující (obsáhlá databáze referencí)
- Nastav si své předměty a buď stále v obraze
- Zapoj se svojí aktivitou do soutěže o ceny
- Založ si svůj profil, aby tě tví spolužáci mohli najít
- Najdi své přátele podle místa kde bydlíš nebo školy kterou studuješ
- Diskutuj ve skupinách o tématech, které tě zajímají
Studijní materiály
Skripta Diagnostika a testování el.systémů
BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví
Zjednodušená ukázka:
Stáhnout celý tento materiálFAKULTA ELEKTROTECHNIKY A KOMUNIKAČNÍCH TECHNOLOGIÍ
VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ
Diagnostika a testování elektronických
systémů
Garant předmětu:
Ing. Milan Recman, CSc.
Autoři textu:
Prof. Ing. Vladislav Musil, CSc.
Ing. Milan Recman, CSc.
Ing. Roman Prokop
Diagnostika a testování elektronických systémů 1
1
Obsah
1 ÚVOD................................................................................................................................9
2 ZAŘAZENÍ PŘEDMĚTU VE STUDIJNÍM PROGRAMU........................................9
2.1 ÚVOD DO PŘEDMĚTU.................................................................................................10
2.2 VSTUPNÍ TEST............................................................................................................13
3 ZÁKLADNÍ POJMY TECHNICKÉ DIAGNOSTIKY..............................................17
4 TYPY PORUCH, MECHANISMUS VZNIKU PORUCH.........................................22
4.1 NÁZVOSLOVÍ PORUCH................................................................................................22
4.2 PORUCHY V DIGITÁLNÍCH OBVODECH........................................................................25
4.3 DEGRADAČNÍ MECHANISMY A VZNIK PORUCH...........................................................28
4.4 PORUCHY V ELEKTRONICKÝCH OBVODECH ...............................................................30
4.4.1 Poruchy pasivních a aktivních prvků elektronických obvodů ..........................30
4.4.2 Poruchy integrovaných obvodů........................................................................31
4.4.3 Způsob propojování integrovaných obvodů v systému.....................................33
4.4.4 Příčiny poruch v propojovacím systému ..........................................................34
4.4.5 Chování členu NAND v provedení TTL............................................................38
4.4.6 Poruchy obvodů CMOS....................................................................................40
4.4.7 Poruchy programovatelných logických polí.....................................................40
4.4.8 Typy poruch neoživeného zařízení....................................................................41
4.5 POČET JEDNODUCHÝCH A VÍCENÁSOBNÝCH PORUCH V KOMBINAČNÍ SÍTI..................42
4.6 ŘEŠENÉ PŘÍKLADY.....................................................................................................42
4.7 KONTROLNÍ OTÁZKY A PŘIKLADY.............................................................................44
5 DIAGNOSTICKÝ SYSTÉM.........................................................................................47
5.1 KATEGORIZACE DIAGNOSTICKÝCH OBJEKTŮ.............................................................48
5.2 DIAGNOSTICKÁ VELIČINA..........................................................................................48
5.3 DIAGNOSTIKA ZA PROVOZU A MIMO PROVOZ.............................................................49
5.4 FÁZE NASAZENÍ TECHNICKÉ DIAGNOSTIKY (DIAGNOSTIKA PŘI NÁVRHU, VÝROBĚ A
POUŽITÍ TECHNICKÝCH ZAŘÍZENÍ)..........................................................................................52
5.4.1 Technická diagnostika fáze předmontážní........................................................52
5.4.2 Technická diagnostika nasazená po konečné montáži, při oživování a kontrole
finálního výrobku..............................................................................................................53
5.4.3 Technická diagnostika aplikovaná v průběhu funkčního nasazení
diagnostického objektu.....................................................................................................54
6 FYZIKÁLNÍ METODY TECHNICKÉ DIAGNOSTIKY.........................................57
6.1 DIAGNOSTICKÉ SYSTÉMY ZALOŽENÉ NA VYUŽITÍ FYZIKÁLNÍCH METOD....................58
7 FUNKČNÍ METODY TECHNICKÉ DIAGNOSTIKY.............................................61
7.1 MATEMATICKÉ MODELY DIAGNOSTICKÝCH OBJEKTŮ................................................62
7.2 DIAGNOSTICKÉ TESTY...............................................................................................64
7.3 FORMY DIAGNOSTIKY................................................................................................70
7.3.1 Periodická diagnostika.....................................................................................70
7.3.2 Průběžná diagnostika.......................................................................................71
7.4 ZOBRAZENÍ DIAGNOSTICKÉHO TESTU POMOCÍ TABULKY, POSTUP PŘI TESTOVÁNÍ.....71
7.4.1 Detekční testování.............................................................................................73
7.4.2 Lokalizační testování........................................................................................75
2 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně
7.5 GRAFICKÉ ZOBRAZENÍ TESTU POMOCÍ DIAGNOSTICKÉHO STROMU............................80
7.6 SESTAVENÍ MNOŽINY PORUCH: MODELY PORUCH, SESTAVENÍ DIAGNOSTICKÝCH
TESTŮ 91
7.6.1 Vícenásobné poruchy....................................................................................... 92
7.6.2 Sestavování testu.............................................................................................. 93
7.7 APLIKACE METOD FUNKČNÍ DIAGNOSTIKY NA OBJEKTY S ANALOGOVĚ PROMĚNNÝMI
VELIČINAMI.........................................................................................................................100
7.7.1 Funkční blokové schéma a logické schéma diagnostického objektu s
analogovými signály ...................................................................................................... 102
7.7.2 Řešení diagnostických úloh pomocí orientovaných grafů příčina - následek u
objektů s analogovými signály....................................................................................... 111
7.8 KONTROLNÍ OTÁZKY A PŘÍKLADY...........................................................................113
8 DIAGNOSTIKA ANALOGOVÝCH A DIGITÁLNÍCH OBVODŮ...................... 119
8.1 DIAGNOSTIKA OBVODU BEZ SIGNÁLU.....................................................................121
8.2 DIAGNOSTIKA OBVODU SE SIGNÁLEM.....................................................................124
8.3 DIAGNOSTIKA PORUCH V LOGICKÝCH SYSTÉMECH.................................................128
9 TESTERY (ZKOUŠEČE)........................................................................................... 133
9.1 NEJDŮLEŽITĚJŠÍ FUNKČNÍ BLOKY ZKOUŠEČŮ..........................................................133
9.2 JAZYKY PRO ZÁPIS TESTŮ........................................................................................135
9.3 ZKOUŠEČE INTEGROVANÝCH OBVODŮ....................................................................136
9.4 ZKOUŠEČE NEOSAZENÝCH DESEK A KABELÁŽE.......................................................137
9.5 ZKOUŠEČE OSAZENÝCH DESEK................................................................................137
9.5.1 Konektorové zkoušeče.................................................................................... 138
9.5.2 Použití řízené sondy....................................................................................... 139
9.5.3 Testery typu ”In Circuit” (vnitroobvodové testery)....................................... 140
9.5.4 Testování pasivních součástek v "In Circuit" testerech................................ 143
9.5.5 Testování analogových prvků v "In Circuit" testerech .................................. 148
9.5.6 Testování logických obvodů v "In Circuit" testerech..................................... 149
9.6 "BOUNDARY SCAN" TESTERY A ANALYZÁTORY .....................................................151
9.7 ASA TESTER...........................................................................................................154
9.8 PŘÍZNAKOVÉ ANALYZÁTORY..................................................................................157
9.8.1 Lineární sekvenční zpětnovazební obvody..................................................... 157
9.8.2 Uspořádání příznakového analyzátoru.......................................................... 164
9.8.3 Metodiky při diagnostikování příznakovým analyzátorem ............................ 166
9.9 LOGICKÉ ANALYZÁTORY.........................................................................................169
9.9.1 Měřicí kanál................................................................................................... 169
9.9.2 Stavová a časová analýza .............................................................................. 170
9.9.3 Spouštění (Triggering)................................................................................... 171
9.9.4 Selektivní sledování (Selective tracing)......................................................... 174
9.9.5 Zobrazování výsledků..................................................................................... 175
9.9.6 Systematické chyby analýzy signálů a jejich odstranění................................ 177
9.9.7 Použití logických analyzátorů v mikroprocesorových systémech.................. 178
9.9.8 Parametry moderních logických analyzátorů................................................ 179
10 DODATKY............................................................................................................... 181
10.1 VÝSLEDKY TESTŮ...................................................................................................181
10.1.1 Vstupní test..................................................................................................... 181
10.1.2 Výsledky kontrolních otázek a příkladů kapitoly 4 ........................................ 183
10.1.3 Výsledky kontrolních otázek a příkladů kapitoly 7 ........................................ 184
Diagnostika a testování elektronických systémů 3
3
4 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně
Seznam obrázků
OBRÁZEK 4.1: VZTAH PORUCHA – CHYBA V ELEKTRONICKÝCH ZAŘÍZENÍCH.......................24
OBRÁZEK 4.2: JEDNODUCHÝ OBVOD S VYZNAČENOU PORUCHOU........................................26
OBRÁZEK 4.3: INVERTOR A) S BIPOLÁRNÍM TRANZISTOREM, B) S UNIPOLÁRNÍM
TRANZISTOREM.................................................................................................................30
OBRÁZEK 4.4: ŘEZ ČTYŘVRSTVOU LAMINÁTOVOU DESKOU; A - 1. VODIVÁ VRSTVA, B - 2.
VODIVÁ VRSTVA, C - 3. VODIVÁ VRSTVA, D - 4. VODIVÁ VRSTVA, E - POKOVENÝ OTVOR VE
DVOUVRSTVÉM LAMINÁTU, F - PRŮCHOZÍ POKOVENÝ OTVOR, G - MĚDĚNÝ SPOJ, H -
PRŮCHOZÍ POKOVENÝ OTVOR S KONTAKTEM NA 2. VRSTVU, I - IZOLAČNÍ VRSTVA, J -
SKELNÝ LAMINÁT..............................................................................................................34
OBRÁZEK 4.5: ZAKONČOVACÍ ČLENY PRO OBVODY TTL A STTL: A) PARALELNÍ
ZAKONČENÍ (HODNOTY ODPORŮ V ZÁVORKÁCH PRO ČÁSTEČNÉ PŘIZPŮSOBENÍ), B) SÉRIOVÉ
ZAKONČENÍ, C) ČLEN NA OŘEZÁVÁNÍ KLADNÝCH PŘEKMITŮ, D) ČLEN NA OŘEZÁVÁNÍ
ZÁPORNÝCH PŘEKMITŮ.....................................................................................................35
OBRÁZEK 4.6: ROZDĚLENÍ ZÁKLADNÍCH DRUHŮ PORUCH V SYSTÉMU.................................36
OBRÁZEK 4.7: ODBĚROVÁ CHARAKTERISTIKA ZÁKLADNÍHO LOGICKÉHO ČLENU TTL........36
OBRÁZEK 4.8: ODRAZY NA ELEKTRICKY DLOUHÉM VEDENÍ (S CHARAKTERISTICKOU
IMPEDANCÍ Z
0
= 100 Ω ) MEZI LOGICKÝMI ČLENY TTL; A) SCHÉMA ZAPOJENÍ, B) TYPICKÉ
PRŮBĚHY 37
OBRÁZEK 4.9: PORUCHY HRADLA NAND (MH 7400).........................................................38
OBRÁZEK 4.10: MODELY CHOVÁNÍ ZKRATU......................................................................39
OBRÁZEK 4.11: ZKRAT VSTUPNÍ DIODY.............................................................................40
OBRÁZEK 4.12: PORUCHA TYPU TRVALE PŘERUŠENO U HRADLA NAND...........................40
OBRÁZEK 4.13: PORUCHA SOUČINOVÉ MATICE PLA..........................................................41
OBRÁZEK 4.14: OBRÁZEK K PŘÍKLADU 4.1........................................................................42
OBRÁZEK 4.15: OBRÁZEK K ŘEŠENÍ PŘÍKLADU 4.1............................................................42
OBRÁZEK 4.16: OBRÁZEK K PŘÍKLADU 4.2........................................................................43
OBRÁZEK 4.17: OBRÁZEK K PŘÍKLADU 4.3........................................................................44
OBRÁZEK 4.18: OBRÁZEK K PŘÍKLADU 4.4........................................................................44
OBRÁZEK 4.19: OBRÁZEK K PŘÍKLADU 4.5........................................................................45
OBRÁZEK 5.1: DIAGNOSTICKÝ SYSTÉM ON-LINE (DO - DIAGNOSTIKOVANÝ OBJEKT, JS -
JEDNOTKA STYKU, DM - DIAGNOSTICKY MODEL, ŘB - ŘÍDICÍ BLOK, VZ -
VYHODNOCOVACÍ ZAŘÍZENÍ, X, Z - VSTUPNÍ A VÝSTUPNÍ VELIČINY GENEROVANÉ
DIAGNOSTICKÝMI PROSTŘEDKY, X*, Z* - VSTUPNÍ A VÝSTUPNÍ VELIČINY)......................49
OBRÁZEK 5.2: DIAGNOSTICKÝ SYSTÉM OFF - LINE (GVP- GENERÁTOR VSTUPNÍCH
TESTOVACÍCH SIGNÁLŮ, OSTATNÍ SYMBOLY DLE OBR. 3.1)...............................................50
OBRÁZEK 5.3: DIAGNOSTIKOVÁNÍ STROJNÍHO OBJEKTU NA ZÁKLADĚ TRENDU
ZHORŠOVÁNÍ TECHNICKÉHO STAVU OBJEKTU: A - TECHNICKÝ STAV, B - DIAGNOSTICKÁ
VELIČINA, ČASOVÉ ÚDAJE: T1, T2, … - TERMÍNY DIAGNOSTICKÝCH PROVĚREK, TÚ -
TERMÍN ÚDRŽBY DLE ČASOVÉHO PLÁNU, TH - OKAMŽIK HLÁŠENÍ O ZHORŠOVÁNÍ
TECHNICKÉHO STAVU S PROGNÓZOU O NUTNÉ OPRAVĚ A SE STANOVENÍM ZHUŠTĚNÝCH
INTERVALŮ DALŠÍCH DIAGNOSTICKÝCH PROVĚREK, TV - OPTIMÁLNÍ OKAMŽIK PRO
OPRAVU NEBO VÝMĚNU OBJEKTU NEBO JEHO ČÁSTI, TM - OKAMŽIK DOSAŽENÍ MEZNÍHO
STAVU OBJEKTU, TP - OKAMŽIK ÚPLNÉ PORUCHY A VÝPADKU Z PROVOZU.......................51
OBRÁZEK 7.1: TŘÍDĚNÍ DIAGNOSTICKÝCH OBJEKTŮ ............................................................69
OBRÁZEK 7.2: PŘÍKLAD DISKRÉTNÍHO KOMBINAČNÍHO OBJEKTU.........................................70
OBRÁZEK 7.3: PŘÍKLAD ANALOGOVÉHO KOMBINAČNÍHO OBJEKTU.....................................70
OBRÁZEK 7.4: PŘÍKLAD DISKRÉTNÍHO OBJEKTU S VNITŘNÍ PAMĚTÍ......................................70
OBRÁZEK 7.5: USPOŘÁDÁNÍ PRO VNĚJŠÍ A VNITŘNÍ DIAGNOSTIKU.......................................71
OBRÁZEK 7.6: π-TABULKA FUNKČNÍCH HODNOT..................................................................72
Diagnostika a testování elektronických systémů 5
5
OBRÁZEK 7.7: OBR.5.7. DIAGNOSTICKÁ APARATURA PRO DETEKČNÍ TESTOVÁNÍ: A)
VYUŽITÍ DIAGNOSTICKÉHO ETALONU, B) KOMPLETNÍ TEST V PAMĚŤOVÉM MÉDIU............75
OBRÁZEK 7.8: KOMBINAČNÍ OBVOD.....................................................................................76
OBRÁZEK 7.9: T-TABULKA TRIVIÁLNÍHO TESTU KOMBINAČNÍHO OBVODU Z OBRÁZEK 7.8.77
OBRÁZEK 7.10: TABULKA NEUSPOŘÁDANÝCH DVOJIC TECHNICKÝCH STAVŮ A PŘÍSLUŠNÝMI
ROZLIŠUJÍCÍMI VSTUPNÍMI KOMBINACEMI..........................................................................80
OBRÁZEK 7.11: DIAGNOSTICKÝ STROM ÚPLNÉHO TESTU....................................................82
OBRÁZEK 7.12: DIAGNOSTICKÝ STROM ÚPLNÉHO TESTU....................................................84
OBRÁZEK 7.13: DIAGNOSTICKÝ STROM ÚPLNÉHO TESTU....................................................85
OBRÁZEK 7.14: DIAGNOSTICKÁ APARATURA PRO LOKALIZAČNÍ TEST................................87
OBRÁZEK 7.15: DIAGNOSTICKÁ APARATURA PRO NEZÁVISLÝ TEST....................................87
OBRÁZEK 7.16: GRAFICKÉ ZOBRAZENÍ PRŮBĚHU ZÁVISLÉHO LOKALIZAČNÍHO TESTU......88
OBRÁZEK 7.17: T-TABULKA TRIVIÁLNÍHO TESTU OBJEKTU S JEDINÝM DIAGNOSTICKÝM
VÝSTUPEM 89
OBRÁZEK 7.18: T-TABULKA TRIVIÁLNÍHO TESTU A PODMNOŽINAMI NEROZLIŠITELNÝCH
STAVŮ 90
OBRÁZEK 7.19: DIAGNOSTICKÝ STROM DETEKČNÍHO TESTU..............................................90
OBRÁZEK 7.20: PŘÍKLAD OBJEKTU BEZ ROZVĚTVENÍ .........................................................96
OBRÁZEK 7.21: PŘÍKLAD OBJEKTU S ROZVĚTVENÍM...........................................................96
OBRÁZEK 7.22: TABULKA PORUCH VYTVOŘENÁ Z T-TABULKY NA OBR. 5.9......................99
OBRÁZEK 7.23: PŘÍKLADY LOGICKÉHO SCHÉMATU POUŽITELNÉHO PRO DIAGNOSTICKÉ
ÚČELY 104
OBRÁZEK 7.24: TABULKA TESTU DIAGNOSTICKÉHO OBJEKTU S ANALOGOVÝMI SIGNÁLY106
OBRÁZEK 7.25: SCHÉMA JEDNODUCHÉHO TRANZISTOROVÉHO ZESILOVAČE....................106
OBRÁZEK 7.26: FUNKČNÍ BLOKOVÉ SCHÉMA ZESILOVAČE ZAPOJENÉHO PODLE OBR.
OBRÁZEK 7.25................................................................................................................106
OBRÁZEK 7.27: LOGICKÉ SCHÉMA ZESILOVAČE...............................................................107
OBRÁZEK 7.28: TABULKA TESTU K LOGICKÉMU SCHÉMATU NA OBRÁZEK 7.27..............108
OBRÁZEK 7.29: STRUKTURNÍ SCHÉMA KLIMATIZAČNÍHO ZAŘÍZENÍ DOPRAVNÍHO LETADLA
108
OBRÁZEK 7.30: FUNKČNÍ BLOKOVÉ SCHÉMA KLIMATIZAČNÍHO ZAŘÍZENÍ........................109
OBRÁZEK 7.31: TABULKA FUNKCÍ PORUCH KLIMATIZAČNÍHO SYSTÉMU..........................110
OBRÁZEK 7.32: OBRÁZEK K PŘÍKLADU 7.1.......................................................................113
OBRÁZEK 7.33: OBRÁZEK K PŘÍKLADU 7.2.......................................................................113
OBRÁZEK 7.34: OBRÁZEK K PŘÍKLADU 7.3.......................................................................114
OBRÁZEK 7.35: OBRÁZEK K PŘÍKLADU 7.4.......................................................................114
OBRÁZEK 7.36: OBRÁZEK K PŘÍKLADU 7.5.......................................................................115
OBRÁZEK 7.37: OBRÁZEK K PŘÍKLADU 7.6.......................................................................115
OBRÁZEK 7.38: OBRÁZEK K PŘÍKLADU 7.7.......................................................................116
OBRÁZEK 7.39: OBRÁZEK K PŘÍKLADU 7.8.......................................................................116
OBRÁZEK 7.40: OBRÁZEK K PŘÍKLADU 7.9.......................................................................116
OBRÁZEK 7.41: OBRÁZEK K PŘÍKLADU 7.10.....................................................................117
OBRÁZEK 7.42: OBRÁZEK K PŘÍKLADU 7.11.....................................................................117
OBRÁZEK 7.43: OBRÁZEK K PŘÍKLADU 7.12.....................................................................117
OBRÁZEK 7.44: OBRÁZEK K PŘÍKLADU 7.13.....................................................................118
OBRÁZEK 8.1: ZÁKLADNÍ ZAPOJENÍ PRO MĚŘENÍ PŘENOSU NEBO AMPLITUDOVÉ
CHARAKTERISTIKY..........................................................................................................124
OBRÁZEK 8.2: PŘIPOJENÍ MĚŘICÍCH PŘÍSTROJŮ K MĚŘENÝM OBVODŮM.............................125
OBRÁZEK 8.3: PŘIPOJENÍ MĚŘICÍCH PŘÍSTROJŮ S DEFINOVANOU HODNOTOU VSTUPNÍ A
VÝSTUPNÍ IMPEDANCE K MĚŘENÉMU OBVODU.................................................................126
6 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně
OBRÁZEK 8.4: BLOKOVÉ SCHÉMA JEDNODUCHÉHO RÁDIOVÉHO PŘIJÍMAČE.......................127
OBRÁZEK 8.5: PŘIPOJENÍ OSCILOSKOPU.............................................................................130
OBRÁZEK 8.6: IMPULSNÍ PRŮBĚH NA SONDĚ......................................................................131
OBRÁZEK 8.7: VLIV INDUKČNOSTI VEDENÍ........................................................................131
OBRÁZEK 9.1: BLOKOVÉ SCHÉMA TESTERU.......................................................................134
OBRÁZEK 9.2: BLOKOVÉ SCHÉMA OBVODŮ PRO JEDEN VÝVOD KONEKTORU .....................134
OBRÁZEK 9.3: PRINCIP JEHLOVÉHO ADAPTÉRU..................................................................137
OBRÁZEK 9.4: PŘÍKLAD NA POUŽITÍ NAVÁDĚNÉ SONDY.....................................................139
OBRÁZEK 9.
Vloženo: 28.05.2009
Velikost: 2,73 MB
Komentáře
Tento materiál neobsahuje žádné komentáře.
Mohlo by tě zajímat:
Skupina předmětu BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví
Reference vyučujících předmětu BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví
Podobné materiály
- BFSL - Finanční služby - Skripta
- BPC1 - Počítače a programování 1 - Skripta Počítače a programování
- BAEY - Analogové elektronické obvody - Skripta Analaogové el.obvody-lab.cvičení
- BAEY - Analogové elektronické obvody - Skripta Analogové el.obvody- počítačová a laboratorní cvičení
- BAEY - Analogové elektronické obvody - Skripta Analogové el.obvody-počítačová cvičení
- BAEY - Analogové elektronické obvody - Skripta Analogové el.obvody
- BASS - Analýza signálů a soustav - Signály a systémy skripta
- BASS - Analýza signálů a soustav - Skripta Dskrétní signály a diskrétní systémy
- BASS - Analýza signálů a soustav - Skripta Spojité systémy 2.část
- BASS - Analýza signálů a soustav - Skripta Spojité systémy
- BASS - Analýza signálů a soustav - Skripta
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - Skripta Diagnostika a zkušebnictví
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - Skripta Speciální diagnostika
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - Skripta Elektrotechnický seminář
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - Skripta Elektrotechnika 1 - Laboratorní a počítačová cvičení
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - Skripta Elektrotechnika 1
- BEL1 - Elektrotechnika 1 - Skripta Technická dokumentace
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Skripta elektrotechnika II
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Skripta laboratorní cvičení 2006
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Skripta laboratorní cvičení 2008
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Skripta počítačové cvičení 200
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Učitelská skripta
- BELF - Elektrické filtry - Skripta Analýza el. obvodů programem
- BELF - Elektrické filtry - Skripta Elektrické filtry
- BEMV - Elektrotechnické materiály a výrobní procesy - Skripta Elektotechnické materiály a výrobní procesy
- BEMV - Elektrotechnické materiály a výrobní procesy - Skripta Elektrotechnické materiály a výrobní procesy - lab. cvičení
- BEMV - Elektrotechnické materiály a výrobní procesy - Skripta Materiály v elektrotechncie
- BESO - Elektronické součástky - Skripta Elektronické součástky - Laboratorní cvičení
- BESO - Elektronické součástky - Skripta Elektronické součástky 2002
- BESO - Elektronické součástky - Skripta Elektronické součástky 2007
- BESO - Elektronické součástky - Skripta Elektronické součástky
- BFY1 - Fyzika 1 - Skripta Fyzikální seminář
- BFY1 - Fyzika 1 - Skripta Průvodce studia předmětu Fyzika 1
- BFY2 - Fyzika 2 - Skripta kmity
- BFY2 - Fyzika 2 - Skripta Optika
- BFY2 - Fyzika 2 - Skripta termofyzika
- BFY2 - Fyzika 2 - Skripta Vlny
- BMA1 - Matematika 1 - Skripta Matematický seminář
- BMA1 - Matematika 1 - Skripta Matematika 1 Počítačová cvičení Maple
- BMA1 - Matematika 1 - Skripta Matematika 1
- BMA1 - Matematika 1 - Skripta Matematika 3
- BMA2 - Matematika 2 - Skripta matematický seminář
- BMA2 - Matematika 2 - Skripta Matematika I
- BMA2 - Matematika 2 - Skripta Matematika II
- BMA3 - Matematika 3 - Skripta Matematika 3
- BMA3 - Matematika 3 - Skripta Sbírka Matematika 3
- BMFV - Měření fyzikálních veličin - Skripta Měření fyz.veličin - návody do lab.cvičení
- BMPS - Modelování a počítačová simulace - Skripta Modelování a počítačová simulace- Počítačová cvičení
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Skripta MTD Laboratorní cvičení
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Skripta MTD část materiály v elektrotechnice
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Skripta MTD část Technická dokumentace - počítačová a konstrukční cvičení
- BMTD - Materiály a technická dokumentace - Skripta MTD část technická dokumentace
- BMVE - Měření v elektrotechnice - Měření v elektrotechnice - Lab.cviceni -skripta
- BMVE - Měření v elektrotechnice - Skripta Meření v elektrotechnice- návody k lab. cvič.
- BMVE - Měření v elektrotechnice - Skripta Měření v elektrotechnice - lab.cvičení II
- BMVE - Měření v elektrotechnice - Skripta Měření v elektrotechnice - laboratorní cvičení
- BPC2 - Počítače a programování 2 - Skripta 2008
- BPC2 - Počítače a programování 2 - Stará skripta
- BPIS - Praktikum z informačních sítí - Skripta
- BVNP - Vysoké napětí a elektrické přístroje - Skripta Blažek 1975
- BVNP - Vysoké napětí a elektrické přístroje - Skripta Elektr.přístroje část II
- BVNP - Vysoké napětí a elektrické přístroje - Skripta Lab.cv. Vysoké napětí
- BVNP - Vysoké napětí a elektrické přístroje - Skripta Vysoké napěti el.stroje
- BVNP - Vysoké napětí a elektrické přístroje - Skripta Vysoké napětí část I.
- BVPA - Vybrané partie z matematiky - Skripta Vybrané partie z matematiky
- BEL2 - Elektrotechnika 2 - Učitelská skripta laboratoře
- BPIS - Praktikum z informačních sítí - skripta
- BESO - Elektronické součástky - nová skripta
- AMA2 - Matematika 2 - skripta
- BEKE - Ekologie v elektrotechnice - Něco ze zkoušek, skripta atd..
- BRR2 - Řízení a regulace 2 - Skripta Řízení a regulace 2
- BVPM - Vybrané partie z matematiky - BVPM - skripta k předmětu
- BEPO - Etika podnikání - BEPO (XEPO) - Skripta
- BNAO - Návrh analogových integrovaných obvodů - Skripta BNAO 2010
- BEVA - Elektromagnetické vlny, antény a vedení - BEVA 2 skripta - přednášky a sbírka úloh.zip
- BMPT - Mikroprocesorová technika - BMPT 2011 zadani PC cviceni + skripta s ucivem
- ABSN - Biosenzory - Skripta
- ALDT - Lékařská diagnostická technika - Skripta
- BMVA - Měření v elektrotechnice - Skripta BMVA
- MTOC - Theory of Communication - Teorie sdělování-skripta
- BDIZ - Diagnostika a zkušebnictví - Diagnostika a zkušebnictví - zkouška x
- BDTS - Diagnostika a testování elektronických systémů - Diagnostika a testování el. systému - lab.cvičení
- BDTS - Diagnostika a testování elektronických systémů - Diagnostika a testování el. systému - poč.cvičení
- BDTS - Diagnostika a testování elektronických systémů - Diagnostika a testování el. systému
Copyright 2023 unium.cz. Abychom mohli web rozvíjet a dále vylepšovat podle preferencí uživatelů, shromažďujeme statistiky o návštěvnosti, a to pomocí Google Analytics a Netmonitor. Tyto systémy pro unium.cz zaznamenávají, které stránky uživatel na webové stránce navštívil, odkud se na stránku dostal, kam z ní odešel, jaké používá zařízení, operační systém či prohlížeč, či jaký má preferenční jazyk. Statistiky jsou anonymní, takže unium.cz nezná identitu návštěvníka a spravuje cookies tak, že neumožňuje identifikovat konkrétní osoby. Používáním webu vyjadřujete souhlas použitím cookies a následujících služeb: