- Stahuj zápisky z přednášek a ostatní studijní materiály
- Zapisuj si jen kvalitní vyučující (obsáhlá databáze referencí)
- Nastav si své předměty a buď stále v obraze
- Zapoj se svojí aktivitou do soutěže o ceny
- Založ si svůj profil, aby tě tví spolužáci mohli najít
- Najdi své přátele podle místa kde bydlíš nebo školy kterou studuješ
- Diskutuj ve skupinách o tématech, které tě zajímají
Studijní materiály
Zjednodušená ukázka:
Stáhnout celý tento materiálDielektrický ohřev
1. Princip
Elektricky nevodivé látky lze ohřívat ve vysokofrekvenčním elektromagnetickém poli tepelnou energií, která vzniká na základě elektrických ztrát uvnitř těchto látek. Elektricky nevodivé látky obsahují polarizované molekuly a disociované kladné a záporné ionty. Molekuly a ionty se chovají jako elektrické dipóly a snaží se sledovat rychlé změny polarizace elektrického pole. V důsledku vzájemného tření těchto částic vzniká tzv. dielektrické teplo. Ohřívaným objektem při dielektrickém ohřevu je dielektrikum kondenzátou. Příčinou ohřevu jsou dielektrické ztráty.
2 Základní vztahy
Na obr. 7 je naznačen deskový kondenzátor, jehož dielektrikum je tvořeno elektricky nevodivou
látkou, která je charakterizována relativní permitivitou εr (–) a ztrátovým činitelem tg δ (–).
Kapacita kondenzátoru je dána vztahem
zde ε0 je permitivita vakua (8,859·10–12 F·m–1), εr relativní permitivita materiálu, S plocha desky
kondenzátoru (m2), d vzdálenost desek (m).
Kapacita kondenzátoru tvaru jednotkové krychle bude
Z náhradního schématu plyne výsledná vodivost G = R–1 + jωC
Výsledná vodivost jednotkové krychle je g = (r–1 + jωε0εr) = (g + jεr), kde r(W·m) je rezistivita (měrný odpor), g(S·m–1) konduktivita (měrná vodivost).
Z fázorového diagramu lze odvodit ztrátový činitel:
Hodnoty εr a tg δ nejsou konstantní, ale mění se s frekvencí a závisejí na teplotě, vlhkosti apod.
Příkon, který se mění v teplo, je dán vztahem: P = U I cos ϕ (W; V, A, –) (30)
Pro malé úhly tg d přibližně platí: cos ϕ = sin ϕ = tg δ (–)
Efektivní hodnota svorkového napětí U kondenzátoru při průchodu sinusového proudu o efektivní
hodnotě I je:
Efektivní hodnota proudu I, který prochází kondenzátorem o kapacitě C po připojení na svorkové
sinusové napětí U, je:
Příkon kondenzátoru lze pak vyjádřit vztahem:
Potřebné intenzity elektrického pole pro různé hodnoty ztrátového činitele a různé frekvence Z uvedeného vztahu je zřejmé, že čím je větší frekvence f (Hz), tím menší je potřebná intenzita elektrického pole E (V·m–1), tj. napěťový gradient Ud–1
3 Aplikace dielektrického ohřevu
Dielektrický ohřev se často používá v dřevozpracujícím průmyslu. Při výrobě překližek z vrstev natřených umělou pryskyřicí se obvykle využívá frekvence asi 1 MHz.
Sušičky dřevěných dílů mají hliníkové dopravní pásy, na kterých se materiál pomalu posunuje pod stojící elektrodou, která je připojena na zdroj vysokofrekvenčního napětí s frekvencí okolo 10 MHz.
Ve sklářském průmyslu se dielektricky slepují vrstvená skla. Suší se i jemná keramika a různé formy. Aplikací dielektrického ohřevu se zkrátí polymerizace plastů z několika hodin na několik minut. Podobně se doba sušení látek z umělého hedvábí zkrátí z deseti dnů na několik desítek minut. V potravinářském průmyslu se dielektricky suší a konzervuje mouka i jiné potraviny. V posledních několika letech se i u nás velmi rozšířily mikrovlnné trouby, které podstatně zrychlují přípravu pokrmů. Samostatnou kapitolou je využití dielektrického ohřevu v lékařství. Diatermie umožňuje cílené hloubkové prohřívání tkání a přináší pacientům často významnou úlevu.
Optický záznam - CD, DVD
Lisování CD vstřikováním do formy
Výroba CD a DVD lisováním
Materiál: polykarbonát (termoplast), Tvrdý, houževnatý, průhledný, odolný do 140 °C, Index lomu = 1,585
Rozlišení optického systému
(velikost nejmenších pozorovatelných detailů)je úměrné poměru vlnová délka / číselná apertura
Perspektivy optického záznamu
• Využití principu holografie
• Využití fluorescence
• Využití jevů nelineární optiky (absorpce)
Záznam a rekonstrukce obrazu
Záznam dat
Data se nakódují na signální svazek v prostorového světelného modulátoru (Spatial Light Modulator - SLM). Signální paprsek po průchodu modulátorem nese "šachovnicový" vzor datové stránky. Signální svazek na fotocitlivém zázna
Vloženo: 21.06.2009
Velikost: 2,52 MB
Komentáře
Tento materiál neobsahuje žádné komentáře.
Mohlo by tě zajímat:
Skupina předmětu X13KAT - Konstrukce a technologie
Reference vyučujících předmětu X13KAT - Konstrukce a technologie
Podobné materiály
- 36APC - Automatizace projektování číslicových systémů - VHDL Tahák
- X01MA2 - Matematika 2 - Tahák Tkadlec
- X12UEM - Úvod do elektrotechnických materiálů - Tahák
- X31EO2 - Elektrické obvody 2 - Tahák
- X35ESY - Elektronické systémy - Tahák na zkoušku
- X35ESY - Elektronické systémy - Další tahák na zkoušku (optimalizace pro TI-89)
- X35ESY - Elektronické systémy - Další tahák na zkoušku
- Y01ALG - Úvod do algebry - tahák - definice ke zkoušce - TheBigOne
- X01MA1 - Matematika 1 - - Matika1 - vzorce (tahak)
- 34EL - Elektronika - tahak na pisomku
- X36PJV - Programování v jazyku Java - tahak html
- X36PJV - Programování v jazyku Java - tahak
- 01UA - Úvod do algebry - tahak
- 01UA - Úvod do algebry - tahak
- 01UA - Úvod do algebry - tahak
- X12BP1 - Bezpečnost v elektrotechnice 1 - tahak z becpecnosti
- X12UEM - Úvod do elektrotechnických materiálů - tahak na konstanty
- X12UEM - Úvod do elektrotechnických materiálů - mikro tahak - vzorec
- X12UEM - Úvod do elektrotechnických materiálů - tahak na priklady
- X12UEM - Úvod do elektrotechnických materiálů - tahak teoria
- X37SAS - Signály a systémy - tahak na 2. test
- X12MTE - Materiály a technologie pro elektroniku - tahak na skusku MTE
- X02FY1 - Fyzika 1 - Tahák zkouškových příkladů
- 02ASF - Astrofyzika - Test hvězdy
- 02ASF - Astrofyzika - Test kosmologie
- 02ASF - Astrofyzika - Test plazma
- 02ASF - Astrofyzika - Test gravitace
- 02ASF - Astrofyzika - Test mlhoviny
- 02ASF - Astrofyzika - Test orientace na obloze
- 02ASF - Astrofyzika - Test sluneční soustava
- 02ASF - Astrofyzika - Test řešení 1
- 02ASF - Astrofyzika - Test řešení 2
- X02FY1 - Fyzika 1 - Test
- X12TDO - Technická dokumentace - Zápočtový test varianta 17
- X12TDO - Technická dokumentace - Zápoštový test Novák
- X16EKO - Ekonomika - Zadání Minitestu a info k maxitestu
- X34ELE - Elektronika - Opravný zápočtový test 29.5.07
- X34ELE - Elektronika - Zápočtový test
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 10.1.09
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 12.1.05
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 13.1.04
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 13.1.05
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 13.1.09
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 14.1.04
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 14.1.05
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 15.1.05
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 4.1.07
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 6.1.06
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 7.1.06
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 7.1.09
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 8.1.06
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 9.1.06
- Y04A2L - Anglický jazyk 2-2 - Sample Exam Test
- Y04A2L - Anglický jazyk 2-2 - Sample Test Answer Key
- Y04A2L - Anglický jazyk 2-2 - Sample Test
- Y04A2L - Anglický jazyk 2-2 - Semestrální test A Kubečková
- Y04A2L - Anglický jazyk 2-2 - Semestrální test BKubečková
- Y04A2L - Anglický jazyk 2-2 - Semestrální test Valentová
- Y04A2L - Anglický jazyk 2-2 - Semestrální testy Vernerová
- Y04A2L - Anglický jazyk 2-2 - Zadání zkoušky - test A a B
- Y04A2Z - Anglický jazyk 2-1 - Final test A Kubečková
- Y04A2Z - Anglický jazyk 2-1 - Final test BKubečková
- X02ASF - Astrofyzika - test
- 16EPO - Ekonomika podnikání - test
- 16EPO - Ekonomika podnikání - test
- 16EPO - Ekonomika podnikání - test
- 16EPO - Ekonomika podnikání - test
- 01UA - Úvod do algebry - test
- 01UA - Úvod do algebry - skuskovy test
- 01UA - Úvod do algebry - skuskovy test
- 01UA - Úvod do algebry - skuskovy test
- 01UA - Úvod do algebry - skuskovy test 3 varianty
- 01UA - Úvod do algebry - skuskovy test
- 01UA - Úvod do algebry - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test s riesenim
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test s riesenim
- X12BP1 - Bezpečnost v elektrotechnice 1 - zadanie testu
- X12UEM - Úvod do elektrotechnických materiálů - zadania skuskovych testov
- X38EMB - Elektrická měření B - nove varianty skuskovych testov - vypracovane
- X37CAD - CAD ve sdělovací technice - vypracovane otazky z teorie na zapoctovy test
- 36UPS - Úvod do počítačových systémů - okruh otazok na zapoctovy test
- X13KAT - Konstrukce a technologie - poznamky z prednasok, staci to na prvy test
- X16EPD - Ekonomika podnikání - skuskovy test c 50
- X16EPD - Ekonomika podnikání - zadania skuskovych testov
- X16EPD - Ekonomika podnikání - zadanie testu
- X16EPD - Ekonomika podnikání - zadanie testu
- X01ALG - Úvod do algebry - zadania skuskovych testov
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test 21.1.2008
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test 11.1.2007
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test 14.1.2008
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test 28.1.
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test 21.2.2008
- X01ALG - Úvod do algebry - ukazkovy skuskovy test 2006
- A3B01MA1 - Matematika 1 - Zkouskovy test 5.1.2009
- A0B01LAG - Lineární Algebra - písemný test LAG (11.1.2010)
- A0B01LAG - Lineární Algebra - Pisemni zkouskovy test 14.1.2010 (!!)
- A0B01LAG - Lineární Algebra - pisemny zkouskovy test 21.01.2010
- A0B01LAA - Lineární algebra a aplikace - zkouškový test 25.1.2010
- A3B01MA1 - Matematika 1 - zkouskovy test 19.1.2010
- A3B01MA1 - Matematika 1 - zkouskovy test 28.1.2010
- A0B01LAG - Lineární Algebra - pisemny zkouskovy test 1.02.2010
- A3B02FY1 - Fyzika 1 pro KyR - Test 30.3.2010 sk.A
- A3B02FY1 - Fyzika 1 pro KyR - Test 30.3.2010 sk.B
- A3B02FY1 - Fyzika 1 pro KyR - Zadání testů 4.5.2010 skupina A, B
- A0B01LGR - Logika a grafy - test
- A3B01MA2 - Matematika 2 - Zadání testu 1.6.2010
- A3B02FY1 - Fyzika 1 pro KyR - Zkouška 9.6.2010 test A
- A3B02FY1 - Fyzika 1 pro KyR - Zkouška 9.6.2010 test B
- A3B01MA2 - Matematika 2 - Zadání z testu ze 17.6.
- A3B02FY1 - Fyzika 1 pro KyR - skouskovy test 1,7.2010
- A3B31EOP - Elektrické obvody a prvky - test z 5.11.2010 7:30
- A3B02FY2 - Fyzika 2 pro KyR - Zadani testu 22.12.2010
- A3B02FY2 - Fyzika 2 pro KyR - Zkouškový test z 22.12.2010, skup. B
- A3B02FY2 - Fyzika 2 pro KyR - Test č. 14 - 22.12.2010
- A3B02FY2 - Fyzika 2 pro KyR - Zkouškový test 4.1.2011 skup. A
- A3B02FY2 - Fyzika 2 pro KyR - Zápočtový test - verze č. 8
- A3B01MA1 - Matematika 1 - zkouškový test 5.1.2011
- A3B31EOP - Elektrické obvody a prvky - zkouškový test, 6.1.2011
- A3B02FY2 - Fyzika 2 pro KyR - Zkouškový test A 6.1.2010
- A3B31EOP - Elektrické obvody a prvky - Zkouškový test 6.1.2011
- A3B02FY2 - Fyzika 2 pro KyR - Zadání testu
- A0B01PSI - Pravděpodobnost, statistika a teorie informace - Zkouškový test z PSI 4.1.2011
- A0B01PSI - Pravděpodobnost, statistika a teorie informace - Zkouškový test 1.2.2011
- A3B38MMP - Mikroprocesory a mikrořadiče v přístrojové technice - Test 24.5.2011
- A3B33OSD - Operační systémy a databáze - Test 25.5.2011
- A3B35ARI - Automatické řízení - ARI skúškový test 6.6.2011
- A3B38MMP - Mikroprocesory a mikrořadiče v přístrojové technice - Test v semestri 12.4.2011
- A0B36PRI - Programování - Prémiový test 2013
- A1B16MME - Makro a mikroekonomika - 2. sada testů
- A1B16MME - Makro a mikroekonomika - 4. sada testů
- A0M32IBE - Informační bezpečnost - Test
Copyright 2024 unium.cz