- Stahuj zápisky z přednášek a ostatní studijní materiály
- Zapisuj si jen kvalitní vyučující (obsáhlá databáze referencí)
- Nastav si své předměty a buď stále v obraze
- Zapoj se svojí aktivitou do soutěže o ceny
- Založ si svůj profil, aby tě tví spolužáci mohli najít
- Najdi své přátele podle místa kde bydlíš nebo školy kterou studuješ
- Diskutuj ve skupinách o tématech, které tě zajímají
Studijní materiály
Zjednodušená ukázka:
Stáhnout celý tento materiálher driving test. This surprised everybody.
dThe Prime Minister gave a good speech. I agree with his views.
eI bought a painting. I sold it to a friend. He liked it.
I sold the . . .
fHe introduced me to his students. Most of them were from abroad.
10Fill in the blanks with the correct prepositions. (6 points)
aThe client insisted ___ speaking to the manager.
bI have to hand in my Master´s thesis ___ the end of March at the latest.
cPaul graduated ___ electrical engineering.
dWe have managed to find an alternative solution ___ the problem.
eLet´s wait ___ tomorrow before making a decision.
fThey provided us ___ all the information we needed.
11Read a magazine article and decide whether the statements given below are true or false in relation to the information in the text. If you think the statement is false, change it to make it true. (6 points)
Many countries and organisations are planning to introduce ID schemes to prevent identity fraud. According to the proposals unveiled in November of 2003, every British resident would have to carry an ID card containing biometric information, such as an iris scan. Cards could then be checked against a central database to confirm the holder´s identity.
Experts, however, maintain that a plan to introduce biometric ID cards in the UK will fail to achieve its main aim. The problem is the limited accuracy of biometric systems combined with the sheer number of people to be indentified. The most optimistic claims for iris recognition systems are around 99 per cent accuracy – so for every 100 scans, there will be at least one false match. This is acceptable for relatively small databases, but the one being proposed will have some 60 million records.
Biometrics is not an exact science. It is only part of the solution to our problems as there is an upper limit to the reliability of iris scans. There are too many environmental variables: scans can be affected by lighting conditions and body temperature, so much so that a system can fail to match two scans of the same iris taken under different conditions.
The accuracy problem might be solved by using more than one biometric identifier – for example, iris scans and fingerprints together. But this would vastly increase the cost.
Mark the statements as True or False:
The proposed system would prevent fraudsters acquiring multiple identity cards.
Even if someone already had one or more records in the database, these would be swamped by the hundreds of thousands of false matches.
There is no upper limit to the reliability of iris scans.
For every 100 scans, there will be at most one false match.
Using more biometric identifiers at the same time would be costly.
Biometrics is being considered as a total solution to all our problems.
Total score: 85 points
Evaluation:
60% of successful answers is considered a good result. If somebody reaches less than 60%, they will have to retake the test.
PAGE
PAGE 3
Vloženo: 23.04.2009
Velikost: 41,00 kB
Komentáře
Tento materiál neobsahuje žádné komentáře.
Mohlo by tě zajímat:
Skupina předmětu Y04A2L - Anglický jazyk 2-2
Reference vyučujících předmětu Y04A2L - Anglický jazyk 2-2
Podobné materiály
- Y04A2L - Anglický jazyk 2-2 - Sample Exam Test
- Y04A2L - Anglický jazyk 2-2 - Sample Test Answer Key
- 02ASF - Astrofyzika - Test hvězdy
- 02ASF - Astrofyzika - Test kosmologie
- 02ASF - Astrofyzika - Test plazma
- 02ASF - Astrofyzika - Test gravitace
- 02ASF - Astrofyzika - Test mlhoviny
- 02ASF - Astrofyzika - Test orientace na obloze
- 02ASF - Astrofyzika - Test sluneční soustava
- 02ASF - Astrofyzika - Test řešení 1
- 02ASF - Astrofyzika - Test řešení 2
- X02FY1 - Fyzika 1 - Test
- X12TDO - Technická dokumentace - Zápočtový test varianta 17
- X12TDO - Technická dokumentace - Zápoštový test Novák
- X16EKO - Ekonomika - Zadání Minitestu a info k maxitestu
- X34ELE - Elektronika - Opravný zápočtový test 29.5.07
- X34ELE - Elektronika - Zápočtový test
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 10.1.09
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 12.1.05
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 13.1.04
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 13.1.05
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 13.1.09
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 14.1.04
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 14.1.05
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 15.1.05
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 4.1.07
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 6.1.06
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 7.1.06
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 7.1.09
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 8.1.06
- X36ALG - Algoritmizace - Test na přednášce 9.1.06
- Y04A2L - Anglický jazyk 2-2 - Semestrální test A Kubečková
- Y04A2L - Anglický jazyk 2-2 - Semestrální test BKubečková
- Y04A2L - Anglický jazyk 2-2 - Semestrální test Valentová
- Y04A2L - Anglický jazyk 2-2 - Semestrální testy Vernerová
- Y04A2L - Anglický jazyk 2-2 - Zadání zkoušky - test A a B
- Y04A2Z - Anglický jazyk 2-1 - Final test A Kubečková
- Y04A2Z - Anglický jazyk 2-1 - Final test BKubečková
- X02ASF - Astrofyzika - test
- 16EPO - Ekonomika podnikání - test
- 16EPO - Ekonomika podnikání - test
- 16EPO - Ekonomika podnikání - test
- 16EPO - Ekonomika podnikání - test
- 01UA - Úvod do algebry - test
- 01UA - Úvod do algebry - skuskovy test
- 01UA - Úvod do algebry - skuskovy test
- 01UA - Úvod do algebry - skuskovy test
- 01UA - Úvod do algebry - skuskovy test 3 varianty
- 01UA - Úvod do algebry - skuskovy test
- 01UA - Úvod do algebry - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test s riesenim
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test
- 01M1 - Matematika 1 - skuskovy test s riesenim
- X12BP1 - Bezpečnost v elektrotechnice 1 - zadanie testu
- X12UEM - Úvod do elektrotechnických materiálů - zadania skuskovych testov
- X38EMB - Elektrická měření B - nove varianty skuskovych testov - vypracovane
- X37CAD - CAD ve sdělovací technice - vypracovane otazky z teorie na zapoctovy test
- 36UPS - Úvod do počítačových systémů - okruh otazok na zapoctovy test
- X13KAT - Konstrukce a technologie - tahak na 2. test
- X13KAT - Konstrukce a technologie - poznamky z prednasok, staci to na prvy test
- X16EPD - Ekonomika podnikání - skuskovy test c 50
- X16EPD - Ekonomika podnikání - zadania skuskovych testov
- X16EPD - Ekonomika podnikání - zadanie testu
- X16EPD - Ekonomika podnikání - zadanie testu
- X37SAS - Signály a systémy - tahak na 2. test
- X01ALG - Úvod do algebry - zadania skuskovych testov
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test 21.1.2008
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test 11.1.2007
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test 14.1.2008
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test 28.1.
- X01ALG - Úvod do algebry - skuskovy test 21.2.2008
- X01ALG - Úvod do algebry - ukazkovy skuskovy test 2006
- A3B01MA1 - Matematika 1 - Zkouskovy test 5.1.2009
- A0B01LAG - Lineární Algebra - písemný test LAG (11.1.2010)
- A0B01LAG - Lineární Algebra - Pisemni zkouskovy test 14.1.2010 (!!)
- A0B01LAG - Lineární Algebra - pisemny zkouskovy test 21.01.2010
- A0B01LAA - Lineární algebra a aplikace - zkouškový test 25.1.2010
- A3B01MA1 - Matematika 1 - zkouskovy test 19.1.2010
- A3B01MA1 - Matematika 1 - zkouskovy test 28.1.2010
- A0B01LAG - Lineární Algebra - pisemny zkouskovy test 1.02.2010
- A3B02FY1 - Fyzika 1 pro KyR - Test 30.3.2010 sk.A
- A3B02FY1 - Fyzika 1 pro KyR - Test 30.3.2010 sk.B
- A3B02FY1 - Fyzika 1 pro KyR - Zadání testů 4.5.2010 skupina A, B
- A0B01LGR - Logika a grafy - test
- A3B01MA2 - Matematika 2 - Zadání testu 1.6.2010
- A3B02FY1 - Fyzika 1 pro KyR - Zkouška 9.6.2010 test A
- A3B02FY1 - Fyzika 1 pro KyR - Zkouška 9.6.2010 test B
- A3B01MA2 - Matematika 2 - Zadání z testu ze 17.6.
- A3B02FY1 - Fyzika 1 pro KyR - skouskovy test 1,7.2010
- A3B31EOP - Elektrické obvody a prvky - test z 5.11.2010 7:30
- A3B02FY2 - Fyzika 2 pro KyR - Zadani testu 22.12.2010
- A3B02FY2 - Fyzika 2 pro KyR - Zkouškový test z 22.12.2010, skup. B
- A3B02FY2 - Fyzika 2 pro KyR - Test č. 14 - 22.12.2010
- A3B02FY2 - Fyzika 2 pro KyR - Zkouškový test 4.1.2011 skup. A
- A3B02FY2 - Fyzika 2 pro KyR - Zápočtový test - verze č. 8
- A3B01MA1 - Matematika 1 - zkouškový test 5.1.2011
- A3B31EOP - Elektrické obvody a prvky - zkouškový test, 6.1.2011
- A3B02FY2 - Fyzika 2 pro KyR - Zkouškový test A 6.1.2010
- A3B31EOP - Elektrické obvody a prvky - Zkouškový test 6.1.2011
- A3B02FY2 - Fyzika 2 pro KyR - Zadání testu
- A0B01PSI - Pravděpodobnost, statistika a teorie informace - Zkouškový test z PSI 4.1.2011
- A0B01PSI - Pravděpodobnost, statistika a teorie informace - Zkouškový test 1.2.2011
- A3B38MMP - Mikroprocesory a mikrořadiče v přístrojové technice - Test 24.5.2011
- A3B33OSD - Operační systémy a databáze - Test 25.5.2011
- A3B35ARI - Automatické řízení - ARI skúškový test 6.6.2011
- A3B38MMP - Mikroprocesory a mikrořadiče v přístrojové technice - Test v semestri 12.4.2011
- A0B36PRI - Programování - Prémiový test 2013
- A1B16MME - Makro a mikroekonomika - 2. sada testů
- A1B16MME - Makro a mikroekonomika - 4. sada testů
- A0M32IBE - Informační bezpečnost - Test
Copyright 2024 unium.cz